- 5 resultaten
laagste prijs: € 15,38, hoogste prijs: € 91,73, gemiddelde prijs: € 41,49
1
Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV - David B. Williams, C. Barry Carter
bestellen
bij Amazon.de (Intern. Bücher)
€ 43,69
verzending: € 3,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
David B. Williams, C. Barry Carter:

Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV - pocketboek

ISBN: 030645324X

[SR: 477277], Taschenbuch, [EAN: 9780306453243], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 403432, Schule & Lernen, 405500, Allgemeinbildung, 14025941, Berufs- & Fachschulbücher… Meer...

Gebraucht. Verzendingskosten:Innerhalb EU, Schweiz und Liechtenstein (sofern Lieferung möglich). Versandfertig in 6 - 10 Werktagen. Die angegebenen Versandkosten können von den tatsächlichen Kosten abweichen. (EUR 3.00) ErgodeBooks Ships From USA
dichtslaan (X)
2
Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - David B. Williams, C. Barry Carter
bestellen
bij ebay.com
$ 16,76
(ongeveer € 15,38)
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link

David B. Williams, C. Barry Carter:

Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - pocketboek

ISBN: 9780306453243

by Williams, David B.; Carter, C.... | PB | Acceptable, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) by Williams, David B.; Carter, C. Barry Readable cop… Meer...

99.3, Zahlungsarten: Paypal, APPLE_PAY, Google Pay, Visa, Mastercard, American Express, DISCOVER. Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand zum Fixpreis, [SHT: Economy Shipping], Illinois 605** Aurora, [TO: Worldwide] (EUR 0.00) thrift.books
dichtslaan (X)
3
Transmission Electron Microscopy I-IV : A Textbook for Materials Science - David B. Williams and C. Barry Carter
bestellen
bij textbooks.com
$ 26,70
(ongeveer € 24,51)
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
David B. Williams and C. Barry Carter:
Transmission Electron Microscopy I-IV : A Textbook for Materials Science - gebruikt boek

ISBN: 9780306453243

A digital copy of "Transmission Electron Microscopy I-IV : A Textbook for Materials Science" by David B. Williams and C. Barry Carter. Download is immediately available upon purchase! 978… Meer...

Download INSTANTLY! Format: VitalSource. Type: . Copying: Allowed, .2Â.3 selections may be copied daily for 2Â.30 days. Printable: Allowed, .2Â.3 prints daily for 2Â.30 days. Expires: No Expiration. Read Aloud?: Allowed. Sharing: Not Allowed. Software: Online: No additional software required <br> Offline: VitalSource Bookshelf. Shipping to USA only! Math & Science > Imaging Technologies > Microscopy. Verzendingskosten: EUR 0.00
dichtslaan (X)
4
Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - David B. Williams
bestellen
bij AbeBooks.com
$ 35,04
(ongeveer € 32,15)
verzending: € 4,751
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
David B. Williams:
Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set) - pocketboek

2004, ISBN: 030645324X

[EAN: 9780306453243], Used, very good, [PU: Springer], Books

NOT NEW BOOK. Verzendingskosten: EUR 4.75 Denver Deep Reads, Denver, CO, U.S.A. [83643802] [Rating: 5 (of 5)]
dichtslaan (X)
5
Transmission Electron Microscopy - Carter C. Barry Williams David B.
bestellen
bij AbeBooks.com
$ 99,98
(ongeveer € 91,73)
verzending: € 8,251
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Carter C. Barry Williams David B.:
Transmission Electron Microscopy - pocketboek

2004, ISBN: 030645324X

[EAN: 9780306453243], [PU: Springer], pp. 703, Books

Verzendingskosten: EUR 8.25 Majestic Books, Hounslow, United Kingdom [51749587] [Rating: 4 (of 5)]
dichtslaan (X)
1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV
auteur:
Titel:
ISBN:

9780306453243


This groundbreaking text provides the necessary instructions for hands-on application of this versatile materials characterization technique and is supported by over 600 illustrations and diagrams.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. Bd. I - IV


EAN (ISBN-13): 9780306453243
ISBN (ISBN-10): 030645324X
pocket book
Verschijningsjaar: 1996
Uitgever: Springer
703 Bladzijden
Gewicht: 1,964 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2007-04-24T01:18:06+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2024-03-18T18:04:53+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9780306453243

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
0-306-45324-X, 978-0-306-45324-3
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: david carter, carter william, carter barry, williams and carter
Titel van het boek: transmission electron microscopy textbook for materials science

Gegevens van de uitgever

Auteur: David B. Williams; C. Barry Carter
Titel: Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science
Uitgeverij: Springer; Springer US
729 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2004-08-31
New York; NY; US
Gedrukt / Gemaakt in
Gewicht: 1,840 kg
Taal: Engels
85,59 € (DE)
87,99 € (AT)
106,60 CHF (CH)
Not available, publisher indicates OP

BC; Book; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Mechanik, Akustik; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; electron microscope; electron microscopy; diffraction; crystal; microscopy; transmission electron microscopy; Helium-Atom-Streuung; materials characterization; B; Physics and Astronomy; Spectroscopy and Microscopy; Surface and Interface Science, Thin Films; Solid State Physics; Characterization and Evaluation of Materials; Biological Microscopy; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Werkstoffprüfung; Biologie, Biowissenschaften; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; BB; BC

Basics: 1. The Transmission Electron Microscope. 2. Scattering and Diffraction. 3. Elastic Scattering. 4. Inelastic Scattering and Beam Damage. 5. Electron Sources. 6. Lenses, Apertures, and Resolution 7. How to `See' Electrons. 8. Pumps and Holders. 9. The Instrument 10. Specimen Preparation. Diffraction: 11. Diffraction Patterns. 12. Thinking in Reciprocal Space 13. Diffracted Beams. 14. Bloch Waves. 15. Dispersion Surfaces. 16. Diffraction from Crystals. 17. Diffraction from Small Volumes. 18. Indexing Diffraction Patterns. 19. Kikuchi Diffraction. 20. Obtaining CBED Patterns. 21. Using Covergent-Beam Technologies. Imaging: 22. Imaging in the TEM. 23. Thickness and Bending Effects. 24. Planar Defects. 25. Strain Fields. 26. WeakBeam Dark-Field Microscopy. 27. Phase-Contrast Images. 28. High-Resolution TEM. 29. Image Simulation. 30. Quantifying and Processing HRTEM Images. 31. Other Imaging Techniques. Spectrometry: 32. Xray Spectrometry. 33. The XEDS-TEM Interface. 34. Qualitative Xray Analysis. 35. Quantitative Xray Microanalysis. 36. Spatial Resolution and Minimum Detectability. 37. Electron EnergyLoss Spectrometers. 38. The EnergyLoss Spectrum. 39. Microanalysis with Ionization-Loss Electrons. 40. Everything Else in the Spectrum. Index.
< naar Archief...