- 5 resultaten
laagste prijs: € 7,83, hoogste prijs: € 222,44, gemiddelde prijs: € 104,11
1
Introduction to Advanced System-on-Ch..., Larsson, Erik - Larsson, Erik
bestellen
bij ebay.de
€ 7,83
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Larsson, Erik:

Introduction to Advanced System-on-Ch..., Larsson, Erik - gebruikt boek

ISBN: 1402032072

Autor:Larsson, Erik. Indem Sie ein gut erhaltenes Buch aus zweiter Hand kaufen, unterstützen Sie eine fortlaufende Wiederverwendung sowie die Verbreitung der Liebe zum Buch durch erneutes… Meer...

98.5, Zahlungsarten: Paypal, APPLE_PAY, Google Pay, Visa, Mastercard, American Express, Priority Listing. Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand zum Fixpreis, [SHT: Standard Shipping from outside], West Sussex, [TO: Weltweit] (EUR 0.00) worldofbooksde
2
Einführung in fortgeschrittenes System-on-Chip-Testdesign und optimal... - 9781402032073 - Erik Larsson
bestellen
bij ebay.de
€ 121,91
verzending: € 17,021
bestellenGesponsorde link

Erik Larsson:

Einführung in fortgeschrittenes System-on-Chip-Testdesign und optimal... - 9781402032073 - gebonden uitgave, pocketboek

ISBN: 9781402032073

(ISBN-13: 9781402032073, 978-1402032073. SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The book is divided int… Meer...

99.7, Zahlungsarten: Paypal, APPLE_PAY, Google Pay, Visa, Mastercard, American Express, Priority Listing. Verzendingskosten:Versand zum Fixpreis, [SHT: Expressversand], GU12 *** Aldershot, [TO: Großbritannien, Antigua und Barbuda, Österreich, Belgien, Bulgarien, Republik Kroatien, Zypern, Tschechische Republik, Dänemark, Estland, Finnland, Frankreich, Deutschland, Griechenland, Ungarn, Irland, Italien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, Niederlande, Polen, Portugal, Rumänien, Slowakei, Slowenien, Spanien, Schweden, Australien, USA, Bahrain, Kanada, Brasilien, Japan, Neuseeland, China, Israel, Hongkong, Norwegen, Indonesien, Malaysia, Mexiko, Singapur, Südkorea, Schweiz, Taiwan, Thailand, Bangladesch, Belize, Bermuda, Bolivien, Barbados, Brunei Darussalam, Kaiman-Inseln, Dominica, Ecuador, Ägypten, Guernsey, Gibraltar, Guadeloupe, Grenada, Französisch-Guayana, Island, Jersey, Jordanien, Kambodscha, St. Kitts und Nevis, St. Lucia, Liechtenstein, Sri Lanka, Macau, Monaco, Malediven, Montserrat, Martinique, Nicaragua, Oman, Pakistan, Peru, Paraguay, Réunion, Turks- und Caicosinseln, Aruba, Saudi-Arabi. (EUR 17.02) books--etc
3
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29) - Larsson, Erik
bestellen
bij amazon.com
$ 159,22
(ongeveer € 141,47)
verzending: € 15,061
bestellenGesponsorde link
Larsson, Erik:
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29) - gebonden uitgave, pocketboek

2005

ISBN: 9781402032073

Springer, Hardcover, Auflage: 2005, 408 Seiten, Publiziert: 2005-11-07T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 1.66 kg, Civil & Environmental, Engineering & Transportation, Subjects, Books, Desig… Meer...

Verzendingskosten:Die angegebenen Versandkosten können von den tatsächlichen Kosten abweichen. (EUR 15.06)
4
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. - Larsson, Erik
bestellen
bij Achtung-Buecher.de
€ 26,90
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Larsson, Erik:
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. - gebonden uitgave, pocketboek

2005, ISBN: 1402032072

gebundene Ausgabe 388 Seiten; Gebundene Ausgabe Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rück… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG, 56070 Koblenz
5
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Larsson, Erik
bestellen
bij Achtung-Buecher.de
€ 222,44
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Larsson, Erik:
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - gebonden uitgave, pocketboek

2005, ISBN: 1402032072

2005 Gebundene Ausgabe Konstruktion, Entwurf, Elektrotechnik, Elektronik, Schaltkreise und Komponenten (Bauteile), boundaryscan; SOCtestdesign; Transistor; automation; consumption; inte… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29)

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process. TOC:Part I. Testing Concepts. Introduction. Design Flow. Design for Test. Boundary Scan.- Part II. SoC Design for Testability. System Modeling. Test Conflicts. Test Power Dissipation. Test Access Mechanism. Test Scheduling.- Part III. SoC Test Applications. A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling. An Integrated Framework for the Design and Optimization of SoC Test Solutions. Efficient Test Solutions for Core-Based Designs. Integrating Core Selection in the System-On-Chip Test Solution Design-Flow. Defect-Aware Test Scheduling. An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling Under Ate Memory Depth Constraint.- Appendix 1. Benchmarks.- References.- Index.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29)


EAN (ISBN-13): 9781402032073
ISBN (ISBN-10): 1402032072
Gebonden uitgave
Verschijningsjaar: 2005
Uitgever: Springer
388 Bladzijden
Gewicht: 1,093 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2007-07-11T13:25:27+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2023-10-06T23:37:03+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9781402032073

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
1-4020-3207-2, 978-1-4020-3207-3
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: larsson
Titel van het boek: system modelling and optimization, design systems chip, design sweden, introduction advanced system chip test design and optimization, opti, little design possible, looking design, best test design


Gegevens van de uitgever

Auteur: Erik Larsson
Titel: Frontiers in Electronic Testing; Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Uitgeverij: Springer; Springer US
388 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2005-11-07
New York; NY; US
Taal: Engels
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
Available
XX, 388 p.

BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Boundary Scan; SOC test design; System-on-Chip; Transistor; automation; consumption; integrated circuit; Electronic Circuits and Systems; Electrical and Electronic Engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Engineering Design; Optical Materials; Elektrotechnik; Elektronik; Konstruktion, Entwurf; Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien; BC

Testing Concepts.- Design Flow.- Design for Test.- Boundary Scan.- SOC Design for Testability.- System Modeling.- Test Conflicts.- Test Power Dissipation.- Test Access Mechanism.- Test Scheduling.- SOC Test Applications.- A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling.- An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions.- Efficient Test Solutions for Core-Based Designs.- Core Selection in the SOC Test Design-Flow.- Defect-Aware Test Scheduling.- An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling under ATE Memory Depth Constraint.
System perspective to SOC test design. Overview of test problems and their modeling Test scheduling overview, extensive reference list Applicable for Master students and PhD-students working in the test field. Could also be good for researchers and professors who would like to get into the area of SOC testing, also for persons in the field who want some references Includes supplementary material: sn.pub/extras

< naar Archief...