- 5 resultaten
laagste prijs: € 76,99, hoogste prijs: € 129,91, gemiddelde prijs: € 103,05
1
In-situ Materials Characterization - Herausgegeben:Graafsma, Heinz; Ziegler, Alexander; Frenken, Joost W.M.; Zhang, Xiao Feng
bestellen
bij booklooker.de
€ 76,99
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Herausgegeben:Graafsma, Heinz; Ziegler, Alexander; Frenken, Joost W.M.; Zhang, Xiao Feng:

In-situ Materials Characterization - pocketboek

2016, ISBN: 9783662519769

[ED: Softcover], [PU: Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin], The behavior of nanoscale materials can change rapidly with time either because the environment changes ra… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) buecher.de GmbH & Co. KG
2
In-situ Materials Characterization : Across Spatial and Temporal Scales - Alexander Ziegler
bestellen
bij ZVAB.com
€ 109,42
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link

Alexander Ziegler:

In-situ Materials Characterization : Across Spatial and Temporal Scales - pocketboek

2016, ISBN: 3662519763

[EAN: 9783662519769], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], IN-SITUCHARACTERIZATION; MATERIALDYNAMICS; NANOANALYSIS; NANOSCALEMATERIALS; NEUTRONSCATTERING; PHOTOELECTRONSP… Meer...

NEW BOOK. Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germany [51283250] [Rating: 5 (von 5)]
3
In-situ Materials Characterization - Alexander Ziegler
bestellen
bij booklooker.de
€ 106,99
verzending: € 2,401
bestellenGesponsorde link
Alexander Ziegler:
In-situ Materials Characterization - pocketboek

2023

ISBN: 9783662519769

[ED: Taschenbuch], [PU: Springer Berlin Heidelberg], Neuware - The behavior of nanoscale materials can change rapidly with time either because the environment changes rapidly or because t… Meer...

Verzendingskosten:Versand nach Deutschland. (EUR 2.40) AHA-BUCH GmbH
4
In-situ Materials Characterization - Ziegler, Alexander Graafsma, Heinz Zhang, Xiao Feng Frenken, Joost W.M.
bestellen
bij booklooker.de
€ 91,95
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Ziegler, Alexander Graafsma, Heinz Zhang, Xiao Feng Frenken, Joost W.M.:
In-situ Materials Characterization - eerste uitgave

2016, ISBN: 9783662519769

pocketboek

[ED: Kartoniert / Broschiert], [PU: Springer Berlin Heidelberg], Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Scientific status report … Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) Moluna GmbH
5
bestellen
bij Biblio.co.uk
$ 143,55
(ongeveer € 129,91)
verzending: € 11,741
bestellenGesponsorde link
Ziegler, Alexander (Editor)/ Graafsma, Heinz (Editor)/ Zhang, Xiao Feng (Editor)/ Frenken, Joost W. M. (Editor):
In-situ Materials Characterization: Across Spatial and Temporal Scales - pocketboek

2016, ISBN: 9783662519769

Springer Verlag, 2016. Paperback. New. reprint edition. 268 pages. 9.25x6.10x0.63 inches., Springer Verlag, 2016, 6

Verzendingskosten: EUR 11.74 Revaluation Books

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek

Gedetalleerde informatie over het boek. - In-situ Materials Characterization


EAN (ISBN-13): 9783662519769
ISBN (ISBN-10): 3662519763
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2016
Uitgever: Springer Berlin

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2016-09-10T14:43:34+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2024-01-11T21:28:42+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9783662519769

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
3-662-51976-3, 978-3-662-51976-9
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: alexander ziegler, graaf, zhang xiao, zhang feng, joost, alexander heinz
Titel van het boek: characterization materials, scales, situ


Gegevens van de uitgever

Auteur: Alexander Ziegler; Heinz Graafsma; Xiao Feng Zhang; Joost W.M. Frenken
Titel: Springer Series in Materials Science; In-situ Materials Characterization - Across Spatial and Temporal Scales
Uitgeverij: Springer; Springer Berlin
256 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2016-08-23
Berlin; Heidelberg; DE
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
106,99 € (DE)
109,99 € (AT)
118,00 CHF (CH)
POD
XI, 256 p. 124 illus., 78 illus. in color.

BC; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Verstehen; In-situ characterization; Material dynamics; Nanoanalysis; Nanoscale materials; Neutron scattering; Photoelectron spectroscopy; Scanning probe techniques; Structure-property; Ultra-fast analysis; X-ray absorption spectroscopy; Nanophysics; Characterization and Analytical Technique; Spectroscopy; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Nanotechnology; Structural Materials; Nanowissenschaften; Werkstoffprüfung; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Materialwissenschaft; Nanotechnologie; BB

The behavior of nanoscale materials can change rapidly with time either because the environment changes rapidly, or because the influence of the environment propagates quickly across the intrinsically small dimensions of nanoscale materials. Extremely fast time resolution studies using X-rays, electrons and neutrons are of very high interest to many researchers and is a fast-evolving and interesting field for the study of dynamic processes. Therefore, in situ structural characterization and measurements of structure-property relationships covering several decades of length and time scales (from atoms to millimeters and femtoseconds to hours) with high spatial and temporal resolutions are crucially important to understand the synthesis and behavior of multidimensional materials. The techniques described in this book will permit access to the real-time dynamics of materials, surface processes, and chemical and biological reactions at various time scales. This book provides an interdisciplinary reference for research using in situ techniques to capture the real-time structural and property responses of materials to surrounding fields using electron, optical, and x-ray microscopies (e.g., scanning, transmission, and low-energy electron microscopy, and scanning probe microscopy), or in the scattering realm with x-ray, neutron and electron diffraction.
Scientific status report on analytical techniques in nano-and surface sciences Presentation of the basics and applications of various surface and thin film analytical -techniques: Scanning Probe Microscopy, X-ray diffraction at synchrotron, Free-Electron-Laser sources, Ultra-fast TEM and Electron Diffraction, FIB/SEM, X-ray photoelectron spectroscopy Presentation of advanced techniques for bulk analysis: X-ray absorption spectroscopy, Time-Resolved Neutron Scattering Includes supplementary material: sn.pub/extras

< naar Archief...