2008, ISBN: 3540851542
2008 Gebundene Ausgabe Physik / Allgemeines, Einführung, Lexikon, calculus; Electron; electronmicroscopy; electronoptics; microscopy; optics; scanningelectronmicroscopy, mit Schutzumsch… Meer...
Achtung-Buecher.de MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) Details... |
2008, ISBN: 3540851542
[EAN: 9783540851547], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], ELECTRON MICROSCOPY,CALCULUS,MICROSCOPY,SCANNING MICROSCOPY,OPTICS,ELECTRON OPTICS,ELECTRON,, Neubindung,… Meer...
ZVAB.com Buchpark, Trebbin, Germany [83435977] [Rating: 5 (von 5)] NOT NEW BOOK. Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) Details... |
2008, ISBN: 9783540851547
[PU: Springer Berlin], Neubindung, Buchschnitt etwas zu weit abgeschnitten, Buchblock leicht schräg eingesetzt, Ausgabe 2008 4564805/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches … Meer...
booklooker.de |
2008, ISBN: 9783540851547
Springer. hardcover. New. 6x1x9. Brand New Book in Publishers original Sealing, Springer, 6
Biblio.co.uk |
2008, ISBN: 9783540851547
Springer, 2008-08-26. 2008. Hardcover. Used:Good., Springer, 2008-08-26, 0
Biblio.co.uk |
2008, ISBN: 3540851542
2008 Gebundene Ausgabe Physik / Allgemeines, Einführung, Lexikon, calculus; Electron; electronmicroscopy; electronoptics; microscopy; optics; scanningelectronmicroscopy, mit Schutzumsch… Meer...
Luysberg, Martina, Karsten Tillmann und Thomas Weirich:
EMC 2008 Vol 1: Instrumentation and Methods - gebonden uitgave, pocketboek2008, ISBN: 3540851542
[EAN: 9783540851547], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], ELECTRON MICROSCOPY,CALCULUS,MICROSCOPY,SCANNING MICROSCOPY,OPTICS,ELECTRON OPTICS,ELECTRON,, Neubindung,… Meer...
2008
ISBN: 9783540851547
[PU: Springer Berlin], Neubindung, Buchschnitt etwas zu weit abgeschnitten, Buchblock leicht schräg eingesetzt, Ausgabe 2008 4564805/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches … Meer...
2008, ISBN: 9783540851547
Springer. hardcover. New. 6x1x9. Brand New Book in Publishers original Sealing, Springer, 6
2008, ISBN: 9783540851547
Springer, 2008-08-26. 2008. Hardcover. Used:Good., Springer, 2008-08-26, 0
Bibliografische gegevens van het best passende boek
auteur: | |
Titel: | |
ISBN: |
Gedetalleerde informatie over het boek. - EMC 2008: Vol 1: Instrumentation and Methods
EAN (ISBN-13): 9783540851547
ISBN (ISBN-10): 3540851542
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2008
Uitgever: Luysberg, Martina, Tillmann, Karsten, Weirich, Thomas, Springer
862 Bladzijden
Gewicht: 1,388 kg
Taal: eng/Englisch
Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2008-09-04T23:14:00+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2024-04-16T22:45:18+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9783540851547
ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
3-540-85154-2, 978-3-540-85154-7
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: schryvers, karsten thomas, tillmann, weirich, luys, martina thom, till thomas, luy
Titel van het boek: aachen september, die instrumentation der, 2008, tillmann, emc
Gegevens van de uitgever
Auteur: Martina Luysberg; Karsten Tillmann; Thomas Weirich
Titel: EMC 2008 - Vol 1: Instrumentation and Methods
Uitgeverij: Springer; Springer Berlin
862 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2008-08-26
Berlin; Heidelberg; DE
Taal: Engels
320,99 € (DE)
329,99 € (AT)
354,00 CHF (CH)
Available
XXXVIII, 862 p.
BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Allgemeines, Lexika; Mathematik und Naturwissenschaften; Verstehen; Astronomie, Kartographie; calculus; electron; electron microscopy; electron optics; microscopy; optics; scanning electron microscopy; Physics and Astronomy; EA; BC
Instrumentation and Methods.- TEM and STEM instrumentation and Electron Optics.- TEM and STEM methods.- SEM/FIB Instrumentation and Methods.- Other Microscopies.- Image analysis and Processing.- Sample Preparation for Materials Science and Biology.Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:
Laatste soortgelijke boek:
9783662502259 EMC 2008 (Herausgegeben:Luysberg, Martina; Tillmann, Karsten; Weirich, Thomas)
< naar Archief...