- 5 resultaten
laagste prijs: € 106,99, hoogste prijs: € 149,79, gemiddelde prijs: € 125,99
1
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
bestellen
bij lehmanns.de
€ 106,99
bestellen
Details en verzending
Gesponsorde link
Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen:

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - nieuw boek

2010, ISBN: 9781441909282

eBooks, eBook Download (PDF), 2010, Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate… Meer...

Verzendingskosten:Does not ship to your country., exclusief verzendingskosten
dichtslaan (X)
2
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
bestellen
bij Hugendubel.de
€ 106,99
bestellen
Details en verzending
Gesponsorde link
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - nieuw boek

ISBN: 9781441909282

*Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices* / pdf eBook für 106.99 € / Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Computer & Internet Medien > Bücher nein eBook a… Meer...

Verzendingskosten:Does not ship to your country., exclusief verzendingskosten
dichtslaan (X)
3
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Anna Kuzio
bestellen
bij hive.co.uk
£ 99,45
(ongeveer € 116,38)
bestellen
Details en verzending
Gesponsorde link
Anna Kuzio:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - nieuw boek

ISBN: 9781441909282

; PDF; Scientific, Technical and Medical > Electronics & communications engineering > Electronics engineeri, Cambridge Scholars Publishing

No. 9781441909282. Verzendingskosten:Instock, Despatched same working day before 3pm, plus shipping costs., exclusief verzendingskosten
dichtslaan (X)
4
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
bestellen
bij lehmanns.de
€ 149,79
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - nieuw boek

2010, ISBN: 9781441909282

eBooks, eBook Download (PDF), 2010, [PU: Springer US], Springer US, 2010

Verzendingskosten:Download sofort lieferbar. (EUR 0.00)
dichtslaan (X)
5
bestellen
bij lehmanns.de
€ 149,79
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - nieuw boek

2010, ISBN: 9781441909282

2010, eBook Download (PDF), eBooks, [PU: Springer US]

Verzendingskosten:Download sofort lieferbar, , Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00)
dichtslaan (X)
1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
auteur:
Titel:
ISBN:

1441909281

Gedetalleerde informatie over het boek. - Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices


EAN (ISBN-13): 9781441909282
ISBN (ISBN-10): 1441909281
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Springer-Verlag GmbH
353 Bladzijden
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-10-05T20:05:02+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2023-06-15T09:53:26+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 1441909281

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
1-4419-0928-1, 978-1-4419-0928-2
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: girard patrick, xiaoqi
Titel van het boek: test

Gegevens van de uitgever

Auteur: Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
Titel: Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Uitgeverij: Springer; Springer US
363 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-03-11
New York; NY; US
Taal: Engels
106,99 € (DE)
110,00 € (AT)
130,00 CHF (CH)
Available
XXI, 363 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Electronic Testing; Low Power Design; Low Power Testing; Nanoscale Testing; Nicolici; Power Aware Testing; Semiconductor Testing; VLSI; Wen; power management; semiconductor; testing; B; Electronic Circuits and Systems; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Engineering; Computer-Aided Design (CAD); BB

Fundamentals of VLSI Testing.- Power Issues During Test.- Low-Power Test Pattern Generation.- Power-Aware Design-for-Test.- Power-Aware Test Data Compression and BIST.- Power-Aware System-Level Test Planning.- Low-Power Design Techniques and Test Implications.- Test Strategies for Multivoltage Designs.- Test Strategies for Gated Clock Designs.- Test of Power Management Structures.- EDA Solution for Power-Aware Design-for-Test.
Is the only comprehensive book on power-aware test for (low power) circuits and systems Instructs readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliability Includes necessary background information on design for test and low-power design Incorporates detailed coverage of all levels of abstraction for power-aware testing of (low-power) circuits and systems Presents state-of-the-art industrial practices and EDA solutions Includes supplementary material: sn.pub/extras
< naar Archief...