- 5 resultaten
laagste prijs: € 100,61, hoogste prijs: € 149,79, gemiddelde prijs: € 115,72
1
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 : Applications in Materials Science - Ze Zhang
bestellen
bij AbeBooks.de
€ 100,61
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Ze Zhang:

Progress in Transmission Electron Microscopy 2 : Applications in Materials Science - pocketboek

2010, ISBN: 3642087183

[EAN: 9783642087189], Neubuch, [PU: Springer Berlin Heidelberg], Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial… Meer...

NEW BOOK. Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germany [51283250] [Rating: 5 (von 5)]
2
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - Ze Zhang
bestellen
bij AbeBooks.de
€ 106,99
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link

Ze Zhang:

Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - pocketboek

2010, ISBN: 3642087183

[EAN: 9783642087189], Neubuch, [PU: Springer Berlin Heidelberg Okt 2010], This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Transmission electron microscopy (TEM) is no… Meer...

NEW BOOK. Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) BuchWeltWeit Inh. Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germany [57449362] [Rating: 5 (von 5)]
3
Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science Xiao-Feng Zhang Editor
bestellen
bij BarnesandNoble.com
€ 109,99
bestellenGesponsorde link
Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science Xiao-Feng Zhang Editor - nieuw boek

ISBN: 9783642087189

Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many asp… Meer...

new in stock. Verzendingskosten:zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten
4
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 Applications in Materials Science - Zhang, Ze (Herausgeber); Zhang, Xiao-Feng (Herausgeber)
bestellen
bij Achtung-Buecher.de
€ 111,22
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Zhang, Ze (Herausgeber); Zhang, Xiao-Feng (Herausgeber):
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 Applications in Materials Science - pocketboek

2010, ISBN: 3642087183

gebonden uitgave

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2001 Kartoniert / Broschiert Wissenschaftliche Standards, Normung usw., Nanotechnologie, Materialwissenschaft, mit Schutzumschlag 11, [PU:Springer… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien
5
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - Xiao-Feng Zhang; Ze Zhang
bestellen
bij lehmanns.de
€ 149,79
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Xiao-Feng Zhang; Ze Zhang:
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - eerste uitgave

2010, ISBN: 9783642087189

pocketboek

Applications in Materials Science, Buch, Softcover, Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2001, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2010

Verzendingskosten:Versand in 10-14 Tagen. (EUR 0.00)

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science Xiao-Feng Zhang Editor

Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume II illustrates the important role that TEM is playing in the development and characterization of advanced materials, including nanostructures, interfacial structures, defects, and macromolecular complexes.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science Xiao-Feng Zhang Editor


EAN (ISBN-13): 9783642087189
ISBN (ISBN-10): 3642087183
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Springer Berlin Heidelberg Core >1 >T
328 Bladzijden
Gewicht: 0,497 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-02-05T11:39:57+01:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2024-01-11T21:28:33+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 3642087183

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
3-642-08718-3, 978-3-642-08718-9
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: zhang xiao, zhang feng
Titel van het boek: progress materials science, transmission, electron microscopy, surface science series


Gegevens van de uitgever

Auteur: Xiao-Feng Zhang; Ze Zhang
Titel: Springer Series in Surface Sciences; Progress in Transmission Electron Microscopy 2 - Applications in Materials Science
Uitgeverij: Springer; Springer Berlin
307 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-10-19
Berlin; Heidelberg; DE
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
106,99 € (DE)
109,99 € (AT)
118,00 CHF (CH)
POD
XIV, 307 p.

BC; Hardcover, Softcover / Technik/Maschinenbau, Fertigungstechnik; Materialwissenschaft; Verstehen; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Measurement Science and Instrumentation; Nanotechnology; Characterization and Analytical Technique; Wissenschaftliche Standards, Normung usw. Nanotechnologie; Werkstoffprüfung; BB

Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume II illustrates the important role that TEM is playing in the development and characterization of advanced materials, including nanostructures, interfacial structures, defects, and macromolecular complexes.
Reviews the modern developments that have made transmission electron microscopy indispensible for materials research Includes supplementary material: sn.pub/extras

< naar Archief...