- 5 resultaten
laagste prijs: € 16,99, hoogste prijs: € 99,50, gemiddelde prijs: € 61,57
1
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - Brent Fultz & James M. Howe
bestellen
bij Orellfuessli.ch
CHF 100,90
(ongeveer € 99,50)
verzending: € 17,751
bestellenGesponsorde link
Brent Fultz & James M. Howe:

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - nieuw boek

ISBN: 9783642297618

This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds impo… Meer...

Nr. A1031608643. Verzendingskosten:Lieferzeiten außerhalb der Schweiz 3 bis 21 Werktage, , Sofort per Download lieferbar, zzgl. Versandkosten. (EUR 17.75)
2
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - Brent Fultz#James M. Howe
bestellen
bij Thalia.de
€ 96,29
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link

Brent Fultz#James M. Howe:

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - nieuw boek

2012, ISBN: 9783642297618

This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds impo… Meer...

Nr. 33784366. Verzendingskosten:, Sofort per Download lieferbar, DE. (EUR 0.00)
3
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - Brent Fultz; James Howe
bestellen
bij Springer.com
€ 78,10
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Brent Fultz; James Howe:
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - nieuw boek

ISBN: 9783642297618

This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds impo… Meer...

new in stock. Verzendingskosten:zzgl. Versandkosten. (EUR 0.00)
4
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - Brent Fultz; James Howe
bestellen
bij lehmanns.de
€ 16,99
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Brent Fultz; James Howe:
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - nieuw boek

2013, ISBN: 9783642297618

eBooks, eBook Download (PDF), Auflage, [PU: Springer Lehrbuch], [ED: 4], Springer Lehrbuch, 2013

Verzendingskosten:Download sofort lieferbar. (EUR 0.00)
5
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - Brent Fultz; James M. Howe
bestellen
bij lehmanns.de
€ 16,99
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Brent Fultz; James M. Howe:
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials - nieuw boek

2013, ISBN: 9783642297618

eBooks, eBook Download (PDF), 4th ed. 2013, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2013

Verzendingskosten:Download sofort lieferbar. (EUR 0.00)

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek

Gedetalleerde informatie over het boek. - Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials


EAN (ISBN-13): 9783642297618
ISBN (ISBN-10): 3642297617
Verschijningsjaar: 2012
Uitgever: Springer Lehrbuch
761 Bladzijden
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2012-11-07T08:35:01+01:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2023-01-10T23:14:26+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 3642297617

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
3-642-29761-7, 978-3-642-29761-8
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: james, howe, jam, brent, fultz
Titel van het boek: electron microscopy materials, material, electro, transmission


Gegevens van de uitgever

Auteur: Brent Fultz; James Howe
Titel: Graduate Texts in Physics; Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Uitgeverij: Springer; Springer Berlin
764 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2012-10-13
Berlin; Heidelberg; DE
Taal: Engels
85,59 € (DE)
88,00 € (AT)
94,50 CHF (CH)
Available
XX, 764 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Chemie/Physikalische Chemie; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Verstehen; Characterization of Materials; Dark-Field and Bright-Field Imaging; Diffraction and Imaging; Diffraction from Crystals; Imaging Lens Systems; Neutron Scattering; Small-Angle Scattering; Theory of Electron Microscopy and X-Ray Diffraction; Transmission Electron Microscopy; X-Ray Diffractometry; B; Spectroscopy; Characterization and Analytical Technique; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Surface and Interface and Thin Film; Physics and Astronomy; Werkstoffprüfung; Materialwissenschaft; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); BC

Diffraction and X-Ray Powder Diffractometer Problems.- TEM and its Optics Problems.- Neutron Scattering Problems.- Scattering Problems.- Inelastic Electron Scattering and Spectroscopy Problems.- Diffraction from Crystals Sphere Problems.- Electron Diffraction and Crystallography Problems.- Diffraction Contrast in TEM Images Problems.- Diffraction Lineshapes Problems.- Patterson Functions and Diffuse Scattering Problems.- High-Resolution TEM Imaging Problems.- High-Resolution STEM and Related Imaging Techniques Problems.- Dynamical Theory Problems.

Brent Fultz is a Professor of Materials Science and Applied Physics at California Institute of Technology, Pasadena. He is the successful co-author of a book on  Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.

 

James Howe is a Professor of Materials Science and Engineering at the University of Virginia, Charlottesville. He successfully co-authored the book Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.


New edition of successful, well-reviewed textbook Provides an integrated coverage of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry Shows how wave radiation probes the structure of materials Supports learning and teaching with numerous problems at the end of each chapter to give students practice with the concepts and practical applications Explains the mathematics needed consistently through the book Helps to extend knowledge by indicating further reading Explains concepts in detail, with no requirement for different reference materials Includes supplementary material: sn.pub/extras

< naar Archief...