- 5 resultaten
laagste prijs: € 54,98, hoogste prijs: € 55,00, gemiddelde prijs: € 54,98
1
bestellen
bij booklooker.de
€ 54,98
verzending: € 1,501
bestellenGesponsorde link
Soergel, Elisabeth:

Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop - nieuw boek

1998, ISBN: 9783896754080

[ED: broschiert], [PU: Herbert Utz Verlag], DE, [SC: 1.50], Neuware, gewerbliches Angebot, 20,5 x 14,5, 216, [GW: 280g], [PU: München], offene Rechnung (Vorkasse vorbehalten), Banküberwei… Meer...

  - Verzendingskosten: EUR 1.50 Herbert Utz Verlag GmbH
2
bestellen
bij booklooker.de
€ 54,98
verzending: € 1,501
bestellenGesponsorde link

Soergel, Elisabeth:

Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop - nieuw boek

1998, ISBN: 9783896754080

[ED: broschiert], [PU: Herbert Utz Verlag], DE, [SC: 1.50], Neuware, gewerbliches Angebot, 20,5 x 14,5, 216, [GW: 280g], [PU: München], offene Rechnung (Vorkasse vorbehalten), Banküberwei… Meer...

  - Verzendingskosten:Versand nach Deutschland. (EUR 1.50) Herbert Utz Verlag GmbH
3
bestellen
bij booklooker.de
€ 54,98
verzending: € 1,501
bestellenGesponsorde link
Soergel, Elisabeth:
Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop - nieuw boek

1998

ISBN: 9783896754080

[ED: broschiert], [PU: Herbert Utz Verlag], DE, [SC: 1.50], Neuware, gewerbliches Angebot, 20,5 x 14,5, 216, [GW: 280g], [PU: München], offene Rechnung (Vorkasse vorbehalten), Banküberwei… Meer...

  - Verzendingskosten: EUR 1.50 Herbert Utz Verlag GmbH
4
bestellen
bij booklooker.de
€ 54,98
verzending: € 1,501
bestellenGesponsorde link
Soergel, Elisabeth:
Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop - nieuw boek

1998, ISBN: 9783896754080

[ED: broschiert], [PU: Herbert Utz Verlag], [SC: 1.50], Neuware, gewerbliches Angebot, 20,5 x 14,5, [GW: 280g], [PU: München]

  - Verzendingskosten:Versand nach Deutschland (EUR 1.50) Herbert Utz Verlag GmbH
5
bestellen
bij booklooker.de
€ 55,00
verzending: € 9,001
bestellenGesponsorde link
Soergel, Elisabeth:
Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop - nieuw boek

1998, ISBN: 9783896754080

[ED: broschiert], [PU: Herbert Utz Verlag], [SC: 9.00]

  - Verzendingskosten:Versand in die Schweiz (EUR 9.00) Herbert Utz Verlag GmbH

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek

Gedetalleerde informatie over het boek. - Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop


EAN (ISBN-13): 9783896754080
ISBN (ISBN-10): 3896754084
pocket book
Verschijningsjaar: 1998
Uitgever: Herbert Utz Verlag, München

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2007-05-12T13:10:39+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2019-01-24T14:35:49+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 3896754084

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
3-89675-408-4, 978-3-89675-408-0
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: sörgel, srgel, soergel hans, soergel wolfgang
Titel van het boek: kristall dichtung, kristallen, dichtung bgb wolfgang


Gegevens van de uitgever

Auteur: Elisabeth Soergel
Titel: Physik; Untersuchung von Oberflächenladungen auf photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop
Uitgeverij: utzverlag GmbH
216 Bladzijden
Gewicht: 0,280 kg
Taal: Duits
55,00 € (DE)
56,60 € (AT)
Not available (reason unspecified)
105 Abb., 7 Tab.

BC; PB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie; Mathematik und Naturwissenschaften; Photorefraktiver Effekt; Rasterkraftmikroskopie


< naar Archief...