- 5 resultaten
laagste prijs: € 141,04, hoogste prijs: € 199,80, gemiddelde prijs: € 177,06
1
bestellen
bij ZVAB.com
€ 148,58
verzending: € 2,901
bestellenGesponsorde link
Cherepin, Valentin Tikhonovich, Valentin Tikhonovich Cherepin and Cherepin:

Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces - gebonden uitgave, pocketboek

1987, ISBN: 9067640786

[EAN: 9789067640787], Fine, [SC: 2.9], [PU: Brill Academic Pub, 01.12.1987.], Science|Chemistry|General, 138 Seiten aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - Sprache: E… Meer...

  - NOT NEW BOOK Verzendingskosten: EUR 2.90 Mosakowski & Stiasny GbR, Florstadt, Germany [51070922] [Rating: 5 (von 5)]
2
Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces
bestellen
bij Amazon.de (Intern. Bücher)
€ 141,04
verzending: € 3,001
bestellenGesponsorde link
Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces - gebonden uitgave, pocketboek

1987, ISBN: 9789067640787

Brill, Gebundene Ausgabe, 138 Seiten, Publiziert: 1987-12-01T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.8 kg, Chemie, Naturwissenschaften & Technik, Kategorien, Bücher, Elektrotechnik, Ingenieurwi… Meer...

Verzendingskosten:Gewöhnlich versandfertig in 9 bis 10 Tagen. Die angegebenen Versandkosten können von den tatsächlichen Kosten abweichen. (EUR 3.00) -PBShop UK-
3
Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces - Cherepin, Valentin Tikhonovich, Valentin Tikhonovich Cherepin and Cherepin
bestellen
bij Achtung-Buecher.de
€ 199,80
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Cherepin, Valentin Tikhonovich, Valentin Tikhonovich Cherepin and Cherepin:
Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces - gebonden uitgave, pocketboek

1

ISBN: 9067640786

24,6 x 15,5 x 1,5 cm, Gebundene Ausgabe 138 Seiten Gebundene Ausgabe aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - gebraucht; sehr gut, [PU:Brill Academic Pub,]

  - Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD (EUR 0.00) Mosakowski & Stiasny GbR Frank Stiasny, 61197 Florstadt
4
bestellen
bij buchfreund.de
€ 196,90
verzending: € 2,901
bestellenGesponsorde link
Cherepin, Valentin Tikhonovich, Valentin Tikhonovich Cherepin and Cherepin:
Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces - gebonden uitgave, pocketboek

1, ISBN: 9789067640787

138 Seiten 24,6 x 15,5 x 1,5 cm, Gebundene Ausgabe aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand - Versand D: 2,90 EUR, [PU:Brill Academic Pub,]

  - Verzendingskosten:Versandkosten innerhalb der BRD (EUR 2.90) Mosakowski & Stiasny GbR, 61197 Florstadt
5
bestellen
bij ZVAB.com
€ 199,00
verzending: € 2,901
bestellenGesponsorde link
Cherepin, Valentin Tikhonovich, Valentin Tikhonovich Cherepin and Cherepin:
Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces - gebonden uitgave, pocketboek

1987, ISBN: 9789067640787

Brill Academic Pub, 01.12.1987., aus einer Firmenbibliothek im guten bis sehr guten Zustand -, 138 Seiten 24,6 x 15,5 x 1,5 cm, Gebundene Ausgabe

  - Verzendingskosten: EUR 2.90 Mosakowski & Stiasny GbR

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces

This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces. It describes modern models of secondary ion formation and the factors influencing sensitivity of measurements and the range of applications. All the main parts of SIMS instruments are discussed in detail. Emphasising practical applications the book also considers the methods and analytical procedures for constitutional analysis of solids --- including metals, semiconductors, organic and biological samples. Methods of depth profiling, spatially multidimensional analysis and study of processes at the surface, such as adsorption, catalysis and oxidation, are given along with the application of SIMS in combination with other methods of surface analysis.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces


EAN (ISBN-13): 9789067640787
ISBN (ISBN-10): 9067640786
Gebonden uitgave
Verschijningsjaar: 1987
Uitgever: Cherepin, V. T. Brill
138 Bladzijden
Gewicht: 0,236 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2007-07-29T15:19:50+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2023-06-13T13:19:59+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9067640786

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-6764-078-6, 978-90-6764-078-7
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: valentin, tikhonov
Titel van het boek: secondary ion mass spectroscopy solid surfaces, know your mass, all that solid


Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:

Laatste soortgelijke boek:
9781000083132 Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces (Hans M. Soekkha)


< naar Archief...