- 5 resultaten
laagste prijs: € 115,21, hoogste prijs: € 147,56, gemiddelde prijs: € 127,86
1
bestellen
bij Elsevier.com
$ 160,00
(ongeveer € 140,42)
bestellenGesponsorde link

Electronics Reliability and Measurement Technology - nieuw boek

ISBN: 9780815517009

This book examines electronics reliability and measurement technology. It identifies advances in measurement science and technology for nondestructive evaluation, and it details common me… Meer...

  - Verzendingskosten:zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten
2
Electronics Reliability and Measurement Technology - Joseph S. Heyman
bestellen
bij kobo.com
£ 101,99
(ongeveer € 119,22)
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link

Joseph S. Heyman:

Electronics Reliability and Measurement Technology - nieuw boek

2012, ISBN: 9780815517009

This book examines electronics reliability and measurement technology. It identifies advances in measurement science and technology for nondestructive evaluation, and it details common me… Meer...

E-Book zum download. Verzendingskosten: EUR 0.00
3
Electronics Reliability and Measurement Technology : Nondestructive Evaluation - Diane Foote
bestellen
bij hive.co.uk
£ 102,00
(ongeveer € 116,90)
bestellenGesponsorde link
Diane Foote:
Electronics Reliability and Measurement Technology : Nondestructive Evaluation - nieuw boek

ISBN: 9780815517009

This book examines electronics reliability and measurement technology.It identifies advances in measurement science and technology for nondestructive evaluation, and it details common mea… Meer...

No. 9780815517009. Verzendingskosten:Instock, Despatched same working day before 3pm, zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten
4
Electronics Reliability and Measurement Technology als eBook Download von Joseph S. Heyman - Joseph S. Heyman
bestellen
bij Hugendubel.de
€ 147,56
verzending: € 7,501
bestellenGesponsorde link
Joseph S. Heyman:
Electronics Reliability and Measurement Technology als eBook Download von Joseph S. Heyman - nieuw boek

ISBN: 9780815517009

Lieferung innerhalb 1-4 Werktagen. Versandkostenfrei, wenn Buch oder Hörbuch enthalten ist, sonst 2,95 EUR. Ab 19,90 EUR versandkostenfrei. (Deutschland) eBooks > Sachthemen & Ratgeber … Meer...

  - No. 15162170. Verzendingskosten:Zzgl. Versandkosten. (EUR 7.50)
5
Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation - Joseph S. Heyman
bestellen
bij BarnesandNoble.com
$ 136,49
(ongeveer € 115,21)
bestellenGesponsorde link
Joseph S. Heyman:
Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation - nieuw boek

ISBN: 9780815517009

Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation Electronics-Reliability-and-Measurement-Technology~~Joseph-S-Heyman Science>Engineering>Chemical Engr NOOK Bo… Meer...

  - new Verzendingskosten:zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek

Gedetalleerde informatie over het boek. - Electronics Reliability and Measurement Technology


EAN (ISBN-13): 9780815517009
Verschijningsjaar: 12
Uitgever: Elsevier Reference Monographs

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2008-10-07T14:21:07+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2020-05-07T16:54:56+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9780815517009

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
978-0-8155-1700-9
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: heyman
Titel van het boek: art electronics


Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:

Laatste soortgelijke boek:
9780080944685 Electronics Reliability and Measurement Technology (Joseph S. Heyman)


< naar Archief...