- 5 resultaten
laagste prijs: € 27,03, hoogste prijs: € 161,72, gemiddelde prijs: € 92,65
1
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - Charles Chiang/ Jamil Kawa
bestellen
bij Hugendubel.de
€ 106,99
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Charles Chiang/ Jamil Kawa:

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - pocketboek

2007, ISBN: 9781402051876

*Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS* - Auflage 2007 / gebundene Ausgabe für 106.99 € / Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Technik Medien > Bücher nein Buch (ge… Meer...

Verzendingskosten:Shipping in 7 days, , Versandkostenfrei nach Hause oder Express-Lieferung in Ihre Buchhandlung., DE. (EUR 0.00)
dichtslaan (X)
2
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - Charles Chiang/ Jamil Kawa
bestellen
bij Hugendubel.de
€ 139,99
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link

Charles Chiang/ Jamil Kawa:

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - pocketboek

2007, ISBN: 9781402051876

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS ab 139.99 € als gebundene Ausgabe: Auflage 2007. Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Technik, Medien > Bücher nein Buch (gebu… Meer...

Verzendingskosten:Shipping in 5 days, , Versandkostenfrei nach Hause oder Express-Lieferung in Ihre Buchhandlung., DE. (EUR 0.00)
dichtslaan (X)
3
bestellen
bij AbeBooks.de
€ 161,72
verzending: € 9,501
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Charles Chiang:
Design For Manufacturability And Yield For NanoScale Cmos - gebonden uitgave, pocketboek

2007

ISBN: 1402051875

[EAN: 9781402051876], Neubuch, [PU: Springer], New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000, Books

NEW BOOK. Verzendingskosten: EUR 9.50 Books2Anywhere, Fairford, GLOS, United Kingdom [190245] [Rating: 5 (von 5)]
dichtslaan (X)
4
bestellen
bij Antikbuch24.de
€ 27,50
bestellen
Details en verzending
Gesponsorde link
Chiang, Charles C. and Jamil Kawa:
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS. - gebonden uitgave, pocketboek

ISBN: 9781402051876

1st ed. 250 S. Hardcover, [PU: Springer]

Verzendingskosten:exclusief verzendingskosten Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG
dichtslaan (X)
5
bestellen
bij alibris.co.uk
€ 27,03
bestellen
Details en verzending
Gesponsorde link
0:
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale Cmos - gebonden uitgave, pocketboek

2007, ISBN: 9781402051876

Hard cover, [PU: Springer]

IND - IndiaVerzendingskosten:exclusief verzendingskosten New Delhi, NEW DELHI, Bookstore
dichtslaan (X)
1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
auteur:
Titel:
ISBN:

9781402051876


This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS


EAN (ISBN-13): 9781402051876
ISBN (ISBN-10): 1402051875
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2007
Uitgever: Springer Netherlands
254 Bladzijden
Gewicht: 0,680 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2007-04-29T08:31:34+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2024-03-01T20:27:24+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9781402051876

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
1-4020-5187-5, 978-1-4020-5187-6
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: chiang, kawa, jamil, bohner
Titel van het boek: integrated circuit system design, design for manufacturability yield for nano scale cmos, cmos integrated circuits, equations

Gegevens van de uitgever

Auteur: Charles Chiang; Jamil Kawa
Titel: Integrated Circuits and Systems; Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Uitgeverij: Springer; Springer Netherland
255 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2007-07-26
Dordrecht; NL
Taal: Engels
106,99 € (DE)
109,99 € (AT)
118,00 CHF (CH)
Available
XXVII, 255 p.

BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; CAD (Computer aided design); CAE (Computer aided engineering); CMOS; Standard; classification; computer-aided design (CAD); computer-aided engineering (CAE); design; development; integrated circuit; layout; model; nano-scale; simulation; tables; Electronic Circuits and Systems; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Processor Architectures; Software Engineering; Nanotechnology; Elektronik; Computer-Aided Design (CAD); Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf; Software Engineering; Nanotechnologie; EA; BC

Random Defects.- Systematic Yield - Lithography.- Systematic Yield - Chemical Mechanical Polishing (CMP).- Variability & Parametric Yield.- Design for Yield.- Yield Prediction.- Conclusions.
Addressing a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond No book available today with comprehensive coverage of this topic Book covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow

Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:

Laatste soortgelijke boek:
9781119000068 Design Management for Architects (Stephen Emmitt)

< naar Archief...