- 5 resultaten
laagste prijs: € 56,90, hoogste prijs: € 169,99, gemiddelde prijs: € 132,80
1
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard
bestellen
bij booklooker.de
€ 169,99
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Patrick Girard:

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - nieuw boek

2001, ISBN: 9781441909275

[ED: Buch], [PU: Springer-Verlag GmbH], Neuware - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor indus… Meer...

Verzendingskosten:Envío gratis. (EUR 0.00) Buchhandlung Kühn GmbH
dichtslaan (X)
2
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices / Patrick Girard (u. a.) / Buch / Englisch / 2009 - Girard, Patrick
bestellen
bij booklooker.de
€ 56,90
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link

Girard, Patrick:

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices / Patrick Girard (u. a.) / Buch / Englisch / 2009 - gebonden uitgave, pocketboek

2009, ISBN: 9781441909275

[ED: Gebunden], [PU: Springer US], Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate … Meer...

Verzendingskosten:Envío gratis. (EUR 0.00) Buchbär
dichtslaan (X)
3
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard#Nicola Nicolici#Xiaoqing Wen
bestellen
bij Thalia.de
€ 149,99
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Patrick Girard#Nicola Nicolici#Xiaoqing Wen:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - gebonden uitgave, pocketboek

2009

ISBN: 9781441909275

Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such a… Meer...

Nr. 17593546. Verzendingskosten:, Sofort lieferbar, DE. (EUR 0.00)
dichtslaan (X)
4
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard
bestellen
bij booklooker.de
€ 163,83
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Patrick Girard:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - nieuw boek

2001, ISBN: 9781441909275

[ED: Buch], [PU: Springer-Verlag GmbH], Neuware - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor indus… Meer...

Verzendingskosten:Envío gratis. (EUR 0.00) buchversandmimpf2000
dichtslaan (X)
5
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Girard, Patrick, Nicola Nicolici und Xiaoqing Wen
bestellen
bij booklooker.de
€ 123,28
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Girard, Patrick, Nicola Nicolici und Xiaoqing Wen:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - eerste uitgave

2009, ISBN: 9781441909275

[PU: Springer US], Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt, Buchrücken leicht geknickt, 1. Auflage 2010 5664520/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 2010, Banküb… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) Buchpark GmbH
dichtslaan (X)
1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
auteur:
Titel:
ISBN:

9781441909275


Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices


EAN (ISBN-13): 9781441909275
ISBN (ISBN-10): 1441909273
Gebonden uitgave
Verschijningsjaar: 2009
Uitgever: Springer-Verlag New York Inc.
363 Bladzijden
Gewicht: 0,717 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2009-11-13T20:04:16+01:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2023-11-10T17:15:21+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9781441909275

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
1-4419-0927-3, 978-1-4419-0927-5
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: girard patrick, xiaoqi
Titel van het boek: test, the power now

Gegevens van de uitgever

Auteur: Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
Titel: Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Uitgeverij: Springer; Springer US
363 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2009-11-23
New York; NY; US
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
POD
XXI, 363 p.

BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Electronic Testing; Low Power Design; Low Power Testing; Nanoscale Testing; Nicolici; Power Aware Testing; Semiconductor Testing; VLSI; Wen; power management; semiconductor; testing; Electronic Circuits and Systems; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Computer-Aided Design (CAD); EA; BC

Fundamentals of VLSI Testing.- Power Issues During Test.- Low-Power Test Pattern Generation.- Power-Aware Design-for-Test.- Power-Aware Test Data Compression and BIST.- Power-Aware System-Level Test Planning.- Low-Power Design Techniques and Test Implications.- Test Strategies for Multivoltage Designs.- Test Strategies for Gated Clock Designs.- Test of Power Management Structures.- EDA Solution for Power-Aware Design-for-Test.
Is the only comprehensive book on power-aware test for (low power) circuits and systems Instructs readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliability Includes necessary background information on design for test and low-power design Incorporates detailed coverage of all levels of abstraction for power-aware testing of (low-power) circuits and systems Presents state-of-the-art industrial practices and EDA solutions Includes supplementary material: sn.pub/extras
< naar Archief...