- 1 resultaten
laagste prijs: € 24,95, hoogste prijs: € 24,95, gemiddelde prijs: € 24,95
1
bestellen
bij
(ongeveer € 24,95)
bestellenGesponsorde link
Hartzell, Allyson L.; Da Silva, Mark G.; Shea, Herbert R.:

Mems Reliability - pocketboek

2010, ISBN: 1441960295, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD

Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 308 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=16mm, Gew.=435gr, [GR: 26850 - TB/Elektronik/Elektrotechnik/Nachrichtentech… Meer...

Lieferbar binnen 4-6 Wochen (Besorgungstitel) Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD Buchgeier.com

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek

This book focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level. It demonstrates how to design MEMs for reliability and provides detailed information on the different types of failure modes and how to avoid them.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Mems Reliability


EAN (ISBN-13): 9781441960290
ISBN (ISBN-10): 1441960295
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: SPRINGER VERLAG GMBH
308 Bladzijden
Gewicht: 0,435 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-09-23T15:12:11+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2011-09-23T15:12:11+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9781441960290

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
1-4419-6029-5, 978-1-4419-6029-0


Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:

Laatste soortgelijke boek:
9781461427360 MEMS Reliability (Hartzell, Allyson L.; Shea, Herbert R.; Da Silva, Mark G.)


< naar Archief...