- 1 resultaten
laagste prijs: € 24,95, hoogste prijs: € 24,95, gemiddelde prijs: € 24,95
1
bestellen
bij
(ongeveer € 24,95)
bestellenGesponsorde link

Defects in High-K Gate Dielectric Stacks - pocketboek

2008, ISBN: 9048107083, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD

Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 508 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=26mm, Gew.=703gr, [GR: 26400 - TB/Physik/Astronomie], [SW: - Technology & … Meer...

Lieferbar binnen 4-6 Wochen (Besorgungstitel) Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD Buchgeier.com
dichtslaan (X)
1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
auteur:

Titel:
ISBN:

9789048107087

Gedetalleerde informatie over het boek. - Defects in High-K Gate Dielectric Stacks


EAN (ISBN-13): 9789048107087
ISBN (ISBN-10): 9048107083
pocket book
Verschijningsjaar: 2008
Uitgever: SPRINGER VERLAG GMBH
508 Bladzijden
Gewicht: 0,703 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-10-11T15:17:38+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2011-10-11T15:17:38+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048107087

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-0708-3, 978-90-481-0708-7

< naar Archief...