2008, ISBN: 9048107083, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD
Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 508 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=26mm, Gew.=703gr, [GR: 26400 - TB/Physik/Astronomie], [SW: - Technology & … Meer...
Buchgeier.com Lieferbar binnen 4-6 Wochen (Besorgungstitel) Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD Details... |
2008, ISBN: 9048107083, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD
Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 508 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=26mm, Gew.=703gr, [GR: 26400 - TB/Physik/Astronomie], [SW: - Technology & … Meer...
Bibliografische gegevens van het best passende boek
auteur: | |
Titel: | |
ISBN: |
Gedetalleerde informatie over het boek. - Defects in High-K Gate Dielectric Stacks
EAN (ISBN-13): 9789048107087
ISBN (ISBN-10): 9048107083
pocket book
Verschijningsjaar: 2008
Uitgever: SPRINGER VERLAG GMBH
508 Bladzijden
Gewicht: 0,703 kg
Taal: eng/Englisch
Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-10-11T15:17:38+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2011-10-11T15:17:38+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048107087
ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-0708-3, 978-90-481-0708-7
Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:
Laatste soortgelijke boek:
9781402043673 Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks (Springer)
- 9781402043673 Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks (Springer)
- 9781402043659 Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices: 220 (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 220) (Evgeni Gusev)
- 9781402043666 Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 220, Band 220) (Gusev, Evgeni)
< naar Archief...