- 0 resultaten
laagste prijs: € 24,95, hoogste prijs: € 24,95, gemiddelde prijs: € 24,95
1
bestellen
bij
(ongeveer € 24,95)
bestellen
Pavlov, Andrei; Sachdev, Manoj:

CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - pocketboek

2008, ISBN: 9048117453, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD

Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 212 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=11mm, Gew.=304gr, [GR: 26320 - TB/Informatik], [SW: - Technology & Industr… Meer...

Buchgeier.com
Betaalde advertentie

Bijzonderheden over het boek

This book covers a broad range of topics related to SRAM design and testing. It includes everything from SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing.

Gedetalleerde informatie over het boek. - CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies


EAN (ISBN-13): 9789048117451
ISBN (ISBN-10): 9048117453
pocket book
Verschijningsjaar: 2008
Uitgever: SPRINGER VERLAG GMBH
212 Bladzijden
Gewicht: 0,304 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-06-20T08:02:52+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2011-06-20T08:02:52+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048117451

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-1745-3, 978-90-481-1745-1


< naar Archief...