- 1 resultaten
laagste prijs: € 24,95, hoogste prijs: € 24,95, gemiddelde prijs: € 24,95
1
bestellen
bij
(ongeveer € 24,95)
bestellenGesponsorde link
Pavlov, Andrei; Sachdev, Manoj:

CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - pocketboek

2008, ISBN: 9048117453, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD

Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 212 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=11mm, Gew.=304gr, [GR: 26320 - TB/Informatik], [SW: - Technology & Industr… Meer...

Lieferbar binnen 4-6 Wochen (Besorgungstitel) Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD Buchgeier.com

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek

This book covers a broad range of topics related to SRAM design and testing. It includes everything from SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing.

Gedetalleerde informatie over het boek. - CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies


EAN (ISBN-13): 9789048117451
ISBN (ISBN-10): 9048117453
pocket book
Verschijningsjaar: 2008
Uitgever: SPRINGER VERLAG GMBH
212 Bladzijden
Gewicht: 0,304 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-06-20T08:02:52+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2011-06-20T08:02:52+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048117451

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-1745-3, 978-90-481-1745-1


< naar Archief...