2008, ISBN: 9048117453, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD
Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 212 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=11mm, Gew.=304gr, [GR: 26320 - TB/Informatik], [SW: - Technology & Industr… Meer...
Buchgeier.com Lieferbar binnen 4-6 Wochen (Besorgungstitel) Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD Details... |
2008, ISBN: 9048117453, Lieferbar binnen 4-6 Wochen Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD
Internationaler Buchtitel. In englischer Sprache. Verlag: SPRINGER VERLAG GMBH, 212 Seiten, L=156mm, B=234mm, H=11mm, Gew.=304gr, [GR: 26320 - TB/Informatik], [SW: - Technology & Industr… Meer...
Bibliografische gegevens van het best passende boek
auteur: | |
Titel: | |
ISBN: |
Gedetalleerde informatie over het boek. - CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
EAN (ISBN-13): 9789048117451
ISBN (ISBN-10): 9048117453
pocket book
Verschijningsjaar: 2008
Uitgever: SPRINGER VERLAG GMBH
212 Bladzijden
Gewicht: 0,304 kg
Taal: eng/Englisch
Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-06-20T08:02:52+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2011-06-20T08:02:52+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048117451
ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-1745-3, 978-90-481-1745-1
Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:
Laatste soortgelijke boek:
9788132202325 CMOS SRAM: CIRCUIT DESIGN AND PARAMETRIC TEST IN NANO-SCALED TECHNOLOGIES (PROCESS-AWARE SRAM DESIGN AND TEST) (Pavlov Andrei Et.Al)
- 9788132202325 CMOS SRAM: CIRCUIT DESIGN AND PARAMETRIC TEST IN NANO-SCALED TECHNOLOGIES (PROCESS-AWARE SRAM DESIGN AND TEST) (Pavlov Andrei Et.Al)
- 9781402083631 CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Andrei Pavlov/ Manoj Sachdev)
- 9789048178551 CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Andrei Pavlov/ Manoj Sachdev)
- 9781402083624 CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware Sram Design and Test (Andrei Pavlov/ Manoj Sachdev)
< naar Archief...