- 5 resultaten
laagste prijs: € 333,67, hoogste prijs: € 491,04, gemiddelde prijs: € 381,47
1
IUTAM Symposium on Creep in Structures - N. Ohno
bestellen
bij ZVAB.com
€ 373,09
verzending: € 7,951
bestellenGesponsorde link
N. Ohno:

IUTAM Symposium on Creep in Structures - pocketboek

2010, ISBN: 9048156238

[EAN: 9789048156238], Neubuch, [SC: 7.95], [PU: Springer Netherlands], DAMAGE; DEFORMATION; FRACTURE; KINETICS; MECHANICS; PLASTICITY, Druck auf Anfrage Neuware -These proceedings contain… Meer...

NEW BOOK. Verzendingskosten: EUR 7.95 AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germany [51283250] [Rating: 5 (von 5)]
2
IUTAM Symposium on Creep in Structures - N. Ohno
bestellen
bij AbeBooks.de
€ 373,09
verzending: € 7,951
bestellenGesponsorde link

N. Ohno:

IUTAM Symposium on Creep in Structures - pocketboek

2010, ISBN: 9048156238

[EAN: 9789048156238], Neubuch, [PU: Springer Netherlands], DAMAGE; DEFORMATION; FRACTURE; KINETICS; MECHANICS; PLASTICITY, Druck auf Anfrage Neuware -These proceedings contain 48 innovati… Meer...

NEW BOOK. Verzendingskosten: EUR 7.95 AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germany [51283250] [Rating: 5 (von 5)]
3
bestellen
bij booklooker.de
€ 336,45
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Murakami, S. Ohno, Nobutada:
IUTAM Symposium on Creep in Structures - eerste uitgave

2010

ISBN: 9789048156238

pocketboek

[ED: Kartoniert / Broschiert], [PU: Springer Netherlands], Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Held in Nagoya, Japan, 3-7 Apri… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) Moluna GmbH
4
bestellen
bij Biblio.co.uk
$ 490,84
(ongeveer € 491,04)
verzending: € 18,011
bestellenGesponsorde link
IUTAM Symposium on Creep in Structures - pocketboek

2017, ISBN: 9789048156238

gebonden uitgave

Europe: Springer, 2017. Hardbound. Brand New. Book Condition:- Brand New. Secured Packaging. Fast DeliveryBookseller Inventory # 9783319419077, Springer, 2017, 6, Springer . Papeback.… Meer...

IND, U.. - Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 18.01) STM Traders Private Limited, Cold Books, Sanctum Books, BookVistas, Revaluation Books, Cold Books
5
IUTAM Symposium on Creep in Structures - Ohno, N. (Herausgeber); Murakami, S. (Herausgeber)
bestellen
bij Achtung-Buecher.de
€ 333,67
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Ohno, N. (Herausgeber); Murakami, S. (Herausgeber):
IUTAM Symposium on Creep in Structures - pocketboek

2010, ISBN: 9048156238

gebonden uitgave

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2001 Kartoniert / Broschiert damage; deformation; fracture; Kinetics; mechanics; Plasticity, mit Schutzumschlag 11, [PU:Springer Netherlands; Spri… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
IUTAM Symposium on Creep in Structures: 86

These proceedings contain 48 innovative papers consolidating the development of creep research since 1990 and discussing the new horizons in this fundamental field of applied mechanics in the coming century. This volume is useful for researchers and graduate course students in the relevant fields.

Gedetalleerde informatie over het boek. - IUTAM Symposium on Creep in Structures: 86


EAN (ISBN-13): 9789048156238
ISBN (ISBN-10): 9048156238
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Springer
548 Bladzijden
Gewicht: 0,918 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-09-21T14:02:47+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2023-09-19T11:49:18+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048156238

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-5623-8, 978-90-481-5623-8
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: murakami, ohno, murakam
Titel van het boek: creep mechanics, creep structures, ufo symposium, schlaf bibliothek


Gegevens van de uitgever

Auteur: S. Murakami; N. Ohno
Titel: Solid Mechanics and Its Applications; IUTAM Symposium on Creep in Structures
Uitgeverij: Springer; Springer Netherland
522 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-12-04
Dordrecht; NL
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
320,99 € (DE)
329,99 € (AT)
354,00 CHF (CH)
POD
XXII, 522 p.

BC; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Mechanik, Akustik; Klassische Mechanik; Verstehen; damage; deformation; fracture; kinetics; mechanics; plasticity; Classical Mechanics; BB; EA

An opening address; D.R. Hayhurst. Micromechanism-quantification for creep constitutive equations; B.F. Dyson, M. MCLean. Creep of gamma-TiA1 based alloys: experiments, computational modelling; W.T. Marketz, et al. Anisotropic creep of single crystal superalloys; D.M. Knowles, D.W. MacLachlan. A rate dependent formulation for void growth in single crystal materials; E.P. Busso, et al. Microstructural modeling of creep fracture in polycrystalline materials; P. Onck, et al. Creep crack growth: from discrete to continuum damage modelling; B.-N. Nguyen, et al. Prediction of inner cracking behavior in heat-resistant steel under creep-fatigue condition by means of three-dimensional numerical simulation; N. Tada, R. Ohtani. Creep of welded structures; T.H. Hyde, W. Sun. Two parameter characterization of crack tip fields under creep conditions; A.D. Bettinson, N.P. O'Dowd, et al. Cavity growth induced by electric current and stress in LSI conductor; T. Kitamura, T. Shibutani. Dislocation density simulations for bulk single crystal growth process using dislocation kinetics model; N. Miyazaki. Multiaxial creep fatigue under anisothermal conditions; J.P. Sermage, et al. Constitutive modeling of viscoplastic damage in solder materials; Y. Wei, et al. Consideration of stress state influences in the material modeling of creep, damage; H. Altenbach. Strain, stress, damage fields in damaged, cracked solids; A. Benallal, L. Siad. Effects of damage on the asymptotic fields of a model I creep crack in steady-state growth; S. Murakami, et al. Computational continuum damage mechanics: its use in the prediction of creep in structures: past, present, future; D.R. Hayhurst. Cracking of creeping structures described by means of CDM; A. Bodnar, M.Chrzanowski. A coupled formulation for thermo-viscoplasticity at finite strains: application to hot metal forming; L. Adam, J.P. Ponthot. Thick axisymmetric plate subjected to thermo-mechanical damage; A. Ganczarski. Creep of shotcrete tunnel shells; Ch. Hellmich, et al. Rupture life time prediction, deformation mechanisms during creep of single-crystal nickel-base superalloys; A. Epishin, et al. Creep damage assessment, void formation in engineering materials; H.C. Furtado, I. Le May. Creep damage accumulation, and failure in narrow regions of steel welds; D.J. Smith, et al. Long-term creep life prediction based on understanding of creep deformation behavior of ferritic heat resistant steels; K. Yagi, et al. Near-threshold fatigue 1 crack growth in SUS304 steel at elevated temperatures; S. Kubo, et al. Approximate viscoplastic notch analysis; G.Härkegard, H.-J. Huth. The reference stress method in creep design: a thirty year retrospective; J.T. Boyle, R. Seshadri. Study on creep-fatigue life prediction methods based on long-term creep-fatigue tests for austenitic stainless steel; Y. Takahashi. Developments in creep fracture assessments within the R5 procedures; R.A. Ainsworth, et al. On global approaches to some problems involving plasticity, viscosity effects; K. Dang Van. On the simulation of large viscoplastic structures under anisothermal cyclic loadings; L. Verger, et al. Description of inelastic behavior of perforated plates based on effective stress concept; T. Igari, et al. The overstress model applied to normal, pathological behavior of some engineering alloys; E. Krempl, K. Ho. Creep strain uncertainties associated with testpiece extensometer ridges: their identification, reduction; D.R. Hayhurst, et al. Equivalence of back stress

Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:

Laatste soortgelijke boek:
9780792367376 IUTAM Symposium on Creep in Structures by S. Murakami Hardcover | Indigo Chapters (S. Murakami)


< naar Archief...