- 5 resultaten
laagste prijs: € 176,57, hoogste prijs: € 287,50, gemiddelde prijs: € 212,24
1
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves: 4
bestellen
bij Amazon.nl
€ 176,57
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link

Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves: 4 - pocketboek

2010, ISBN: 9789048167852

redacteur: Alagumalai, Sivakumar, redacteur: Curtis, David D. redacteur: Hungi, Njora, Springer, Paperback, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005, 378 Seiten, Publiziert: 2… Meer...

Verzendingskosten:Real shipping costs can differ from the ones shown here. (EUR 0.00)
dichtslaan (X)
2
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves: 4
bestellen
bij Amazon.nl
€ 213,99
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves: 4 - pocketboek

2010, ISBN: 9789048167852

redacteur: Alagumalai, Sivakumar, redacteur: Curtis, David D. redacteur: Hungi, Njora, Springer, Paperback, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005, 378 Seiten, Publiziert: 2… Meer...

Verzendingskosten:Op voorraad, Lieferung von Amazon. (EUR 0.00) Amazon.nl
dichtslaan (X)
3
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars - Alagumalai, Sivakumar Curtis, David D. Hungi, Njora
bestellen
bij booklooker.de
€ 179,45
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Alagumalai, Sivakumar Curtis, David D. Hungi, Njora:
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars - eerste uitgave

2010

ISBN: 9789048167852

pocketboek

[ED: Kartoniert / Broschiert], [PU: Springer Netherlands], Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. While the primary purpose of th… Meer...

Verzendingskosten:Free shipping. (EUR 0.00) Moluna GmbH
dichtslaan (X)
4
bestellen
bij alibris.co.uk
£ 177,81
(ongeveer € 203,67)
bestellen
Details en verzending
Gesponsorde link
Alagumalai, Sivakumar (Editor), and Curtis, David D. (Editor), and Hungi, Njora (Editor):
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves - pocketboek

2010, ISBN: 9789048167852

Paperback, New., 360 p. Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects , 4. XVIII, 360 p. Intended for professional and scholarly audience., Dordrecht, [PU: Springer]

Verzendingskosten:exclusief verzendingskosten Sparks, NV, Alibris
dichtslaan (X)
5
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars - Collectif
bestellen
bij Rakuten.fr
€ 287,50
verzending: € 0,011
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Collectif:
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars - gebruikt boek

ISBN: 9789048167852

Livre

1 Offers. Verzendingskosten:France. (EUR 0.01) Priceminister
dichtslaan (X)
1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves: 4
auteur:
Titel:
ISBN:

9789048167852


This volume presents applications of the Rasch method to the real world measurement problems encountered by graduate students and other researchers. It includes an introductory section written by leaders and pioneers in the field in which the theory of the model is outlined succinctly. The major part of the book is devoted to research problems that have been addressed by a variety of applications of the Rasch measurement model using commonly available Rasch analysis programs. These examples will provide models and guidance for both researchers and students who are learning to apply the Rasch method. Each chapter outlines the research problem, describes the data used in the analysis, and presents the results of the analyses along with their interpretation. Data sets, command files and output files are available from a website for students and researchers who wish to work through any example in detail. The volume concludes with an exploration of some important extensions of the model to more complex research problems and data structures. Information about the common Rasch analysis programs is presented by their developers along with URLs for locations from which trial/demo/student versions of these programs can be downloaded.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars: Papers in Honour of John P. Keeves: 4


EAN (ISBN-13): 9789048167852
ISBN (ISBN-10): 904816785X
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Springer
380 Bladzijden
Gewicht: 0,604 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-10-01T17:34:52+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2023-11-21T20:53:21+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048167852

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-6785-X, 978-90-481-6785-2
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: curtis david
Titel van het boek: measurement, rasch

Gegevens van de uitgever

Auteur: Sivakumar Alagumalai; David D. Curtis; Njora Hungi
Titel: Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects; Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars - Papers in Honour of John P. Keeves
Uitgeverij: Springer; Springer Netherland
360 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-10-28
Dordrecht; NL
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
213,99 € (DE)
219,99 € (AT)
236,00 CHF (CH)
POD
XVIII, 360 p.

BC; Hardcover, Softcover / Pädagogik; Pädagogik; Verstehen; Interpretation; mathematics; research; test theory; Education; International and Comparative Education; Probability Theory; Bildungssysteme und -strukturen; Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik; Stochastik; BB

Measurement and the Rasch model.- Classical Test Theory.- Objective Measurement.- The Rasch Model Explained.- Applications of the Rasch Model — Tests and Competencies.- Monitoring Mathematics Achievement over Time.- Manual and Automatic Estimates of Growth and Gain Across Year Levels: How Close is Close?.- Japanese Language Learning and the Rasch Model.- Chinese Language Learning and the Rasch Model.- Employing the Rasch Model to Detect Biased Items.- Raters and Examinations.- Comparing Classical and Contemporary Analyses and Rasch Measurement.- Combining Rasch Scaling and Multi-Level Analysis.- Applications of the Rasch Model — Attitudes Scales and Views.- Rasch and Attitude Scales: Explanatory Style.- Science Teachers’ Views on Science, Technology and Society Issues.- Estimating the Complexity of Workplace Rehabilitation Tasks Using Rasch Analysis.- Creating a Scale as a General Measure of Satisfaction for Information and Communication Technology Users.- Extensions of the Rasch model.- Multidimensional Item Responses: Multimethod-Multitrait Perspectives.- Information Functions for the General Dichotomous Unfolding Model.- Past, Present and Future: An Idiosyncratic View of Rasch Measurement.- Epilogue.- Our Experiences and Conclusion.

Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:

Laatste soortgelijke boek:
9789048101757 Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars

< naar Archief...