- 0 resultaten
laagste prijs: € 89,99, hoogste prijs: € 146,09, gemiddelde prijs: € 119,21
1
bestellen
bij booklooker.de
€ 89,99
verzending: € 0,001
bestellen
Gesponsorde link
Chiang, Charles Kawa, Jamil:

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - pocketboek

2010, ISBN: 9789048173037

[ED: Softcover], [PU: Springer Netherlands], This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a S… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) buecher.de GmbH & Co. KG
2
bestellen
bij ZVAB.com
€ 119,99
verzending: € 0,001
bestellen
Gesponsorde link

Charles Chiang:

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - pocketboek

2010, ISBN: 9048173035

[EAN: 9789048173037], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Netherlands], Druck auf Anfrage Neuware - This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a na… Meer...

NEW BOOK. Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germany [51283250] [Rating: 5 (von 5)]
3
bestellen
bij AbeBooks.de
€ 119,99
verzending: € 0,001
bestellen
Gesponsorde link
Charles Chiang:
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - pocketboek

2010

ISBN: 9048173035

[EAN: 9789048173037], Neubuch, [PU: Springer Netherlands], Druck auf Anfrage Neuware - This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS pro… Meer...

NEW BOOK. Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germany [51283250] [Rating: 5 (von 5)]
4
bestellen
bij Indigo.ca
C$ 212,95
(ongeveer € 146,09)
bestellen
Gesponsorde link
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS - nieuw boek

ISBN: 9789048173037

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOSwalks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process and how to address each aspect at … Meer...

new in stock. Verzendingskosten:zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten
5
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems) - Chiang, Charles
bestellen
bij Amazon.de (Intern. Bücher)
€ 119,99
verzending: € 0,001
bestellen
Gesponsorde link
Chiang, Charles:
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems) - pocketboek

2010, ISBN: 9789048173037

Mitwirkende: Kawa, Jamil, Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 288 Seiten, Publiziert: 2010-11-22T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: b… Meer...

Verzendingskosten:Auf Lager. Lieferung von Amazon. (EUR 0.00) Amazon.de

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.
Bijzonderheden over het boek
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)

This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)


EAN (ISBN-13): 9789048173037
ISBN (ISBN-10): 9048173035
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Springer
288 Bladzijden
Gewicht: 0,439 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-05-22T21:08:02+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2022-06-09T22:16:32+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048173037

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-7303-5, 978-90-481-7303-7


Gegevens van de uitgever

Auteur: Charles Chiang; Jamil Kawa
Titel: Integrated Circuits and Systems; Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Uitgeverij: Springer; Springer Netherland
255 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-11-22
Dordrecht; NL
Gedrukt / Gemaakt in
Gewicht: 0,454 kg
Taal: Engels
119,99 € (DE)
123,35 € (AT)
132,50 CHF (CH)
POD
XXVII, 255 p.

BC; Previously published in hardcover; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; CAD (Computer aided design); CAE (Computer aided engineering); CMOS; Standard; classification; computer-aided design (CAD); computer-aided engineering (CAE); design; development; integrated circuit; layout; model; nano-scale; simulation; tables; B; Circuits and Systems; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Processor Architectures; Software Engineering/Programming and Operating Systems; Nanotechnology; Electronic Circuits and Systems; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Processor Architectures; Software Engineering; Nanotechnology; Engineering; Elektronik; Computer-Aided Design (CAD); Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf; Software Engineering; Nanotechnologie; BB

1. Introduction of DFM/DFY. a. What is DFM/DFY ? historical perspective. b. Why is it becoming ever so critical? c. DFM categories & classifications. d. How do various DFM solutions tie up with specific design flows. e. DFM & DFY are intertwined. 2. Random Defects. a. CAA. b. Improving CAA. c. Cell library yield grading based on CAA. 3. Systematic yield. a. Lithography. 4. Systematic yield. b. CMP 5. Parametric yield. a. Intro. b. Timing aspects. c. Power considerations. 6. Design for yield. a. analysis. b. prediction. c. enhancement. 7. Summary and Conclusions

< naar Archief...