- 5 resultaten
laagste prijs: € 70,79, hoogste prijs: € 166,82, gemiddelde prijs: € 142,64
1
Radiation Effects on Embedded Systems - Raoul Velazco
bestellen
bij ZVAB.com
€ 162,42
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Raoul Velazco:

Radiation Effects on Embedded Systems - pocketboek

2010, ISBN: 9048174171

[EAN: 9789048174171], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Netherlands], RADIATION GROUND TESTING; SIGNAL; ANALOG; CIRCUIT; ELECTRONICS; FAULT TOLERANCE; INTEGRATED LASER; MICROELECTRONICS; … Meer...

NEW BOOK. Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germany [51283250] [Rating: 5 (von 5)]
2
Radiation Effects on Embedded Systems
bestellen
bij Amazon.de (Intern. Bücher)
€ 160,49
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Radiation Effects on Embedded Systems - pocketboek

2010, ISBN: 9789048174171

Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 280 Seiten, Publiziert: 2010-10-19T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.95 kg, Verkaufsrang: 4645016, Umweltingen… Meer...

Verzendingskosten:Auf Lager, Lieferung von Amazon. (EUR 0.00) Amazon.de
3
Radiation Effects on Embedded Systems
bestellen
bij Amazon.de (Intern. Bücher)
€ 152,66
verzending: € 3,001
bestellenGesponsorde link
Radiation Effects on Embedded Systems - pocketboek

2010

ISBN: 9789048174171

Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 280 Seiten, Publiziert: 2010-10-19T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.95 kg, Verkaufsrang: 4645016, Umweltingen… Meer...

Verzendingskosten:Die angegebenen Versandkosten können von den tatsächlichen Kosten abweichen. (EUR 3.00)
4
Radiation Effects on Embedded Systems
bestellen
bij Amazon.de (Intern. Bücher)
€ 70,79
verzending: € 3,001
bestellenGesponsorde link
Radiation Effects on Embedded Systems - pocketboek

2010, ISBN: 9789048174171

Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 280 Seiten, Publiziert: 2010-10-19T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.95 kg, Verkaufsrang: 4645016, Umweltingen… Meer...

Verzendingskosten:Gewöhnlich versandfertig in 2 bis 3 Tagen. Die angegebenen Versandkosten können von den tatsächlichen Kosten abweichen. (EUR 3.00) Paper Cavalier Deutschland
5
Radiation Effects on Embedded Systems - Velazco, Raoul (Herausgeber); Reis, Ricardo (Herausgeber); Fouillat, Pascal (Herausgeber)
bestellen
bij Achtung-Buecher.de
€ 166,82
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Velazco, Raoul (Herausgeber); Reis, Ricardo (Herausgeber); Fouillat, Pascal (Herausgeber):
Radiation Effects on Embedded Systems - pocketboek

2010, ISBN: 9048174171

gebonden uitgave

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 Kartoniert / Broschiert Kernenergie und Kerntechnik (Nuklearenergie, Nukleartechnik), Elektrotechnik, Elektronik, Schaltkreise und Komponente… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Radiation Effects on Embedded Systems

This volume provides an extensive overview of radiation effects on integrated circuits, offering major guidelines for coping with radiation effects on components. It contains a set of chapters based on the tutorials presented at the International School on Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications (SERESSA) that was held in Manaus, Brazil, November 20-25, 2005.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Radiation Effects on Embedded Systems


EAN (ISBN-13): 9789048174171
ISBN (ISBN-10): 9048174171
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Velazco, Raoul, Fouillat, Pascal, Reis, Ricardo, Springer
280 Bladzijden
Gewicht: 0,427 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-09-21T16:21:36+02:00 (Amsterdam)
Boek voor het laatst gevonden op 2024-04-28T15:07:23+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048174171

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-7417-1, 978-90-481-7417-1
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: reis, ricardo, pascal, raoul plus
Titel van het boek: effects radiation


Gegevens van de uitgever

Auteur: Raoul Velazco; Pascal Fouillat; Ricardo Reis
Titel: Radiation Effects on Embedded Systems
Uitgeverij: Springer; Springer Netherland
269 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-10-19
Dordrecht; NL
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
POD
VIII, 269 p.

BC; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Radiation Effects; Radiation ground testing; Signal; analog; circuit; electronics; embedded systems; fault tolerance; integrated circuit; laser; microelectronics; single event effects; single-electron transistor; software; testing; Electronic Circuits and Systems; Radiation Dosimetry and Protection; Electrical and Electronic Engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Nuclear Energy; Medizinische Physik; Elektrotechnik; Elektronik; Kernenergie und Kerntechnik (Nuklearenergie, Nukleartechnik); BB

Radiation Space Environment.- Radiation Effects in Microelectronics.- In-flight Anomalies on Electronic Devices.- Multi-level Fault Effects Evaluation.- Effects of Radiation on Analog and Mixed-Signal Circuits.- Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing.- Design Hardening Methodologies for ASICs.- Fault Tolerance in Programmable Circuits.- Automatic Tools for Design Hardening.- Test Facilities for SEE and Dose Testing.- Error Rate Prediction of Digital Architectures: Test Methodology and Tools.- Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis.
Provides an extensive overview of radiation effects on integrated circuits Coverage of space radiation effects Design hardening methodologies Simulation techniques of the transient effects of radiation on integrated circuits Methodology and tools for radiation ground testing on circuits and systems Qualification of circuits and systems for space applications

Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:

Laatste soortgelijke boek:
9781402056468 Radiation Effects on Embedded Systems (Raoul Velazco; Pascal Fouillat; Ricardo Reis)


< naar Archief...