
2010, ISBN: 9048174171
[EAN: 9789048174171], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Netherlands], RADIATION GROUND TESTING; SIGNAL; ANALOG; CIRCUIT; ELECTRONICS; FAULT TOLERANCE; INTEGRATED LASER; MICROELECTRONICS; … Meer...
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Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007, 280 Seiten, Publiziert: 2010-10-19T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.95 kg, Verkaufsrang: 4645016, Umweltingen… Meer...
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Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 Kartoniert / Broschiert Kernenergie und Kerntechnik (Nuklearenergie, Nukleartechnik), Elektrotechnik, Elektronik, Schaltkreise und Komponente… Meer...
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Bibliografische gegevens van het best passende boek
auteur: | |
Titel: | |
ISBN: |
Gedetalleerde informatie over het boek. - Radiation Effects on Embedded Systems
EAN (ISBN-13): 9789048174171
ISBN (ISBN-10): 9048174171
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Velazco, Raoul, Fouillat, Pascal, Reis, Ricardo, Springer
280 Bladzijden
Gewicht: 0,427 kg
Taal: eng/Englisch
Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-09-21T16:21:36+02:00 (Amsterdam)
Boek voor het laatst gevonden op 2024-04-28T15:07:23+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048174171
ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-7417-1, 978-90-481-7417-1
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: reis, ricardo, pascal, raoul plus
Titel van het boek: effects radiation
Gegevens van de uitgever
Auteur: Raoul Velazco; Pascal Fouillat; Ricardo Reis
Titel: Radiation Effects on Embedded Systems
Uitgeverij: Springer; Springer Netherland
269 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-10-19
Dordrecht; NL
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
POD
VIII, 269 p.
BC; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Radiation Effects; Radiation ground testing; Signal; analog; circuit; electronics; embedded systems; fault tolerance; integrated circuit; laser; microelectronics; single event effects; single-electron transistor; software; testing; Electronic Circuits and Systems; Radiation Dosimetry and Protection; Electrical and Electronic Engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Nuclear Energy; Medizinische Physik; Elektrotechnik; Elektronik; Kernenergie und Kerntechnik (Nuklearenergie, Nukleartechnik); BB
Radiation Space Environment.- Radiation Effects in Microelectronics.- In-flight Anomalies on Electronic Devices.- Multi-level Fault Effects Evaluation.- Effects of Radiation on Analog and Mixed-Signal Circuits.- Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing.- Design Hardening Methodologies for ASICs.- Fault Tolerance in Programmable Circuits.- Automatic Tools for Design Hardening.- Test Facilities for SEE and Dose Testing.- Error Rate Prediction of Digital Architectures: Test Methodology and Tools.- Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis.Provides an extensive overview of radiation effects on integrated circuits Coverage of space radiation effects Design hardening methodologies Simulation techniques of the transient effects of radiation on integrated circuits Methodology and tools for radiation ground testing on circuits and systems Qualification of circuits and systems for space applications
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