- 5 resultaten
laagste prijs: € 149,98, hoogste prijs: € 184,54, gemiddelde prijs: € 166,59
1
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test - Manoj Sachdev, Andrei Pavlov
bestellen
bij buchfreund.de
€ 176,14
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Manoj Sachdev, Andrei Pavlov:

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test - nieuw boek

2010, ISBN: 9789048178551

Kartoniert, 212 Seiten, 235mm x 155mm x 12mm, Sprache(n): eng Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and test Provides detailed coverage of SRAM cell stability, stabilit… Meer...

Verzendingskosten:Geen versendingskosten in Duitsland. (EUR 0.00) MARZIES Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien
dichtslaan (X)
2
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, Band 40) - Pavlov, Andrei
bestellen
bij Amazon.de (Intern. Bücher)
€ 149,98
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link

Pavlov, Andrei:

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, Band 40) - pocketboek

2010, ISBN: 9789048178551

Mitwirkende: Sachdev, Manoj, Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008, 212 Seiten, Publiziert: 2010-10-28T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.… Meer...

Verzendingskosten:Auf Lager, Lieferung von Amazon. (EUR 0.00) Amazon.de
dichtslaan (X)
3
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, Band 40) - Pavlov, Andrei
bestellen
bij Amazon.de (Intern. Bücher)
€ 149,98
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Pavlov, Andrei:
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, Band 40) - pocketboek

2010

ISBN: 9789048178551

Mitwirkende: Sachdev, Manoj, Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008, 212 Seiten, Publiziert: 2010-10-28T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.… Meer...

Verzendingskosten:Auf Lager, Lieferung von Amazon. (EUR 0.00) Amazon.de
dichtslaan (X)
4
bestellen
bij booklooker.de
€ 154,00
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Sachdev, Manoj:
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies / Process-Aware SRAM Design and Test / Manoj Sachdev (u. a.) / Taschenbuch / Frontiers in Electronic Testing / Paperback / xvi - pocketboek

2010, ISBN: 9789048178551

gebonden uitgave

[ED: Taschenbuch], [PU: Springer Netherland], CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) Buchbär
dichtslaan (X)
5
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - Andrei Pavlov/ Manoj Sachdev
bestellen
bij Hugendubel.de
€ 160,49
verzending: € 7,501
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Andrei Pavlov/ Manoj Sachdev:
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - pocketboek

2008, ISBN: 9789048178551

*CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies* - Process-Aware SRAM Design and Test. Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 / Taschenbuch für 160.49 € / A… Meer...

Verzendingskosten:Shipping in 3 days, , Versandkostenfrei nach Hause oder Express-Lieferung in Ihre Buchhandlung., plus verzendkosten. (EUR 7.50)
dichtslaan (X)
1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, Band 40)
auteur:
Titel:
ISBN:

9789048178551


The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

Gedetalleerde informatie over het boek. - CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, Band 40)


EAN (ISBN-13): 9789048178551
ISBN (ISBN-10): 904817855X
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Springer
212 Bladzijden
Gewicht: 0,328 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-05-06T21:52:55+02:00 (Amsterdam)
Boek voor het laatst gevonden op 2026-01-30T19:53:06+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048178551

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-7855-X, 978-90-481-7855-1
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: pavlov
Titel van het boek: cmos design, nano, cmos technologie, best test design, around the circuit, sram, process design, cmos taschenbuch

Gegevens van de uitgever

Auteur: Andrei Pavlov; Manoj Sachdev
Titel: Frontiers in Electronic Testing; CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - Process-Aware SRAM Design and Test
Uitgeverij: Springer; Springer Netherland
194 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-10-28
Dordrecht; NL
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
171,19 € (DE)
175,99 € (AT)
189,00 CHF (CH)
POD
XVI, 194 p.

BC; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; CMOS; DOM; RAM; SRAM; Transistor; integrated circuit; static-induction transistor; Electronic Circuits and Systems; Computer Memory Structure; Computerhardware; BB

and Motivation.- SRAM Circuit Design and Operation.- SRAM Cell Stability: Definition, Modeling and Testing.- Traditional SRAM Fault Models and Test Practices.- Techniques for Detection of SRAM Cells with Stability Faults.- Soft Errors in SRAMs: Sources, Mechanisms and Mitigation Techniques.
Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and test Provides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise Margin Introduces the concept of stability fault modelling Provides an Overview of specialized Design for Testability techniques for SRAM stability test Addresses soft-error considerations of SRAM design
< naar Archief...