- 5 resultaten
laagste prijs: € 153,76, hoogste prijs: € 176,14, gemiddelde prijs: € 163,48
1
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test - Manoj Sachdev, Andrei Pavlov
bestellen
bij buchfreund.de
€ 176,14
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Manoj Sachdev, Andrei Pavlov:

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test - nieuw boek

2010, ISBN: 9789048178551

Kartoniert, 212 Seiten, 235mm x 155mm x 12mm, Sprache(n): eng Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and test Provides detailed coverage of SRAM cell stability, stabilit… Meer...

Verzendingskosten:Geen versendingskosten in Duitsland. (EUR 0.00) MARZIES Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien
dichtslaan (X)
2
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies / Process-Aware SRAM Design and Test / Manoj Sachdev (u. a.) / Taschenbuch / Frontiers in Electronic Testing / Paperback / xvi - Sachdev, Manoj
bestellen
bij booklooker.de
€ 154,00
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link

Sachdev, Manoj:

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies / Process-Aware SRAM Design and Test / Manoj Sachdev (u. a.) / Taschenbuch / Frontiers in Electronic Testing / Paperback / xvi - pocketboek

2010, ISBN: 9789048178551

gebonden uitgave

[ED: Taschenbuch], [PU: Springer Netherland], CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) Buchbär
dichtslaan (X)
3
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - Andrei Pavlov/ Manoj Sachdev
bestellen
bij Hugendubel.de
€ 160,49
verzending: € 7,501
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Andrei Pavlov/ Manoj Sachdev:
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - pocketboek

2008

ISBN: 9789048178551

*CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies* - Process-Aware SRAM Design and Test. Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 / Taschenbuch für 160.49 € / A… Meer...

Verzendingskosten:Shipping in 3 days, , Versandkostenfrei nach Hause oder Express-Lieferung in Ihre Buchhandlung., plus verzendkosten. (EUR 7.50)
dichtslaan (X)
4
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test - Sachdev, Manoj; Pavlov, Andrei
bestellen
bij Achtung-Buecher.de
€ 173,01
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Sachdev, Manoj; Pavlov, Andrei:
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test - pocketboek

2010, ISBN: 904817855X

gebonden uitgave

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 Kartoniert / Broschiert Computerhardware, Transistor; integrated circuit; static-induction transistor; DOM; RAM, mit Schutzumschlag 11, [PU:S… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien
dichtslaan (X)
5
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Proces
bestellen
bij ebay.nl
€ 153,76
verzending: € 16,521
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Proces - nieuw boek

ISBN: 9789048178551

Standard functional tests often fail to detect unstable SRAM cells. Undetected unstable cells deteriorate quality and reliability of the product as such cells may fail to retain the data … Meer...

98.4, Priority Listing. Verzendingskosten:Versand zum Fixpreis, RH11*** CRAWLEY. (EUR 16.52) the_nile_uk_store
dichtslaan (X)
1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
auteur:
Titel:
ISBN:

9789048178551


The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

Gedetalleerde informatie over het boek. - CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies


EAN (ISBN-13): 9789048178551
ISBN (ISBN-10): 904817855X
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Springer Netherlands
212 Bladzijden
Gewicht: 0,328 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-05-06T21:52:55+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2024-04-02T16:42:16+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048178551

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-7855-X, 978-90-481-7855-1
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: pavlov
Titel van het boek: cmos design, nano, cmos technologie, best test design, around the circuit, sram, process design, cmos taschenbuch

Gegevens van de uitgever

Auteur: Andrei Pavlov; Manoj Sachdev
Titel: Frontiers in Electronic Testing; CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - Process-Aware SRAM Design and Test
Uitgeverij: Springer; Springer Netherland
194 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-10-28
Dordrecht; NL
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
171,19 € (DE)
175,99 € (AT)
189,00 CHF (CH)
POD
XVI, 194 p.

BC; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; CMOS; DOM; RAM; SRAM; Transistor; integrated circuit; static-induction transistor; Electronic Circuits and Systems; Computer Memory Structure; Computerhardware; BB

and Motivation.- SRAM Circuit Design and Operation.- SRAM Cell Stability: Definition, Modeling and Testing.- Traditional SRAM Fault Models and Test Practices.- Techniques for Detection of SRAM Cells with Stability Faults.- Soft Errors in SRAMs: Sources, Mechanisms and Mitigation Techniques.
Gives a process-aware perspective on SRAM circuit design and test Provides detailed coverage of SRAM cell stability, stability sensitivity and analytical evaluation of Static Noise Margin Introduces the concept of stability fault modelling Provides an Overview of specialized Design for Testability techniques for SRAM stability test Addresses soft-error considerations of SRAM design
< naar Archief...