- 5 resultaten
laagste prijs: € 80,67, hoogste prijs: € 124,73, gemiddelde prijs: € 111,09
1
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines - Drechsler, Rolf, Eggersglüß, Stephan, Fey, Görschwin, Tille, Daniel
bestellen
bij amazon.co.uk
£ 70,84
(ongeveer € 80,67)
verzending: € 5,471
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Drechsler, Rolf, Eggersglüß, Stephan, Fey, Görschwin, Tille, Daniel:

Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines - pocketboek

2010, ISBN: 9789048184910

Springer, Paperback, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009, 204 Seiten, Publiziert: 2010-10-19T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 0.45 kg, Circuits, Electronics Engineering, E… Meer...

Gebraucht, wie neu. Verzendingskosten:Usually dispatched within 13 to 14 days. Die angegebenen Versandkosten können von den tatsächlichen Kosten abweichen. (EUR 5.47) BOOKS etc
dichtslaan (X)
2
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines - Drechsler, Rolf
bestellen
bij amazon.de
€ 111,70
verzending: € 3,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link

Drechsler, Rolf:

Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines - pocketboek

2010, ISBN: 9789048184910

Mitwirkende: Eggersglüß, Stephan, Mitwirkende: Fey, Görschwin, Mitwirkende: Tille, Daniel, Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009, 204 Seiten, Publizi… Meer...

Verzendingskosten:Gewöhnlich versandfertig in 6 bis 7 Tagen. Die angegebenen Versandkosten können von den tatsächlichen Kosten abweichen. (EUR 3.00) preigu
dichtslaan (X)
3
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines - Rolf Drechsler
bestellen
bij BookDepository.com
€ 116,30
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Rolf Drechsler:
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines - pocketboek

ISBN: 9789048184910

Paperback, [PU: Springer], In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding … Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00)
dichtslaan (X)
4
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines - Drechsler, Rolf; Tille, Daniel; Fey, Görschwin; Eggersglüß, Stephan
bestellen
bij Achtung-Buecher.de
€ 124,73
verzending: € 0,001
bestellen
Details aangeboden
Gesponsorde link
Drechsler, Rolf; Tille, Daniel; Fey, Görschwin; Eggersglüß, Stephan:
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines - pocketboek

2010, ISBN: 9048184916

gebonden uitgave

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 Kartoniert / Broschiert Elektronik, ATPG; BooleanSatisfiability; Standard; formalmethods; logic; testing, mit Schutzumschlag 11, [PU:Springer… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien
dichtslaan (X)
5
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines by Rolf Drechsler Paperback | Indigo Chapters
bestellen
bij Indigo.ca
C$ 168,95
(ongeveer € 122,06)
bestellen
Details en verzending
Gesponsorde link
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines by Rolf Drechsler Paperback | Indigo Chapters - nieuw boek

ISBN: 9789048184910

Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines by Rolf Drechsler Paperback | Indigo Chapters Books > Science & Nature > Science > Technology > Electronics P10117, Rolf Drechsler

new in stock. Verzendingskosten:zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten
dichtslaan (X)
1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
auteur:
Titel:
ISBN:

9789048184910


In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, modern SAT solvers and their use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines


EAN (ISBN-13): 9789048184910
ISBN (ISBN-10): 9048184916
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2010
Uitgever: Springer
204 Bladzijden
Gewicht: 0,316 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2011-07-16T20:16:27+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2023-03-29T15:36:27+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9789048184910

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
90-481-8491-6, 978-90-481-8491-0
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: eggersglüß, fey, eggersglüss, rolf stephan, eggersgluess, drechsler, eggers, tille, daniel
Titel van het boek: test, drechsler

Gegevens van de uitgever

Auteur: Rolf Drechsler; Stephan Eggersglüß; Görschwin Fey; Daniel Tille
Titel: Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Uitgeverij: Springer; Springer Netherland
192 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2010-10-19
Dordrecht; NL
Gedrukt / Gemaakt in
Gewicht: 0,454 kg
Taal: Engels
106,99 € (DE)
109,99 € (AT)
118,00 CHF (CH)
POD
XII, 192 p.

BC; Circuits and Systems; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; ATPG; Boolean Satisfiability; Standard; formal methods; logic; testing; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Electronic Circuits and Systems; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Elektronik; BB

1 Introduction. 2 Preliminaries. 2.1 Circuits. 2.2 Fault Models. 2.3 Simple ATPG Framework. 2.4 Classical ATPG Algorithms. 2.5 Benchmarking. 3 Boolean Satisfiability. 3.1 SAT Solver. 3.2 Advances in SAT.3.3 Circuit-to-CNF Conversion. 3.4 Circuit-oriented SAT. 4 SAT-based ATPG. 4.1 Basic Problem Transformation. 4.2 Structural Information. 4.3 Experimental Results. 4.4 Summary. 5 Learning Techniques. 5.1 Introductory Example. 5.2 Concepts for Reusing Learned Information. 5.3 Heuristics for ATPG. 5.4 Experimental Results. 5.5 Summary. 6 Multiple-valued Logic. 6.1 Four-Valued Logic. 6.2 Multi-input Gates. 6.3 Experimental Results. 6.4 Summary. 7 Improved Circuit-to-CNF Conversion. 7.1 Hybrid Logic. 7.2 Incremental Instance Generation. 7.3 Experimental Results. 7.4 Summary. 8 Branching Strategies. 8.1 Standard Heuristics of SAT Solvers. 8.2 Decision Strategies. 8.3 Experimental Results. 8.4 Summary. 9 Integration into Industrial Flow. 9.1 Industrial Environment. 9.2 Integration of SAT-based ATPG. 9.3 Test Pattern Compactness. 9.4 Experimental Results. 9.5 Summary. 10 Delay Faults. 10.1 Transition Delay. 10.2 Path Delay. 10.3 Encoding Efficiency for Path Delay Faults. 10.4 Incremental Approach. 10.5 Experimental Results. 10.6 Summary. 11 Summary and Outlook. Bibliography. Index.
< naar Archief...