Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen - nieuw boek

EAN (ISBN-13): 9783642728389
Verschijningsjaar: 2013
Uitgever: Springer-Verlag GmbH

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ISBN/EAN: 9783642728389

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
978-3-642-72838-9
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Auteur van het boek: wunderlich, hans joachim
Titel van het boek: test, schaltungen

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Gegevens van de uitgever

Auteur: Hans-Joachim Wunderlich
Titel: Informatik-Fachberichte; Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
Uitgeverij: Springer; Springer Berlin
133 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2013-03-07
Berlin; Heidelberg; DE
Taal: Duits
42,99 € (DE)
42,99 € (AT)
46,00 CHF (CH)
Available
XII, 133 S. 4 Abb.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik; Verstehen; Komplexität; Produktion; Schaltung; Simulation; integrierte Schaltung; B; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Computer Science; BC

1. Das Testproblem für integrierte Schaltungen.- 1.1 Die Rolle des Produktionstests.- 1.2 Ebenen der Fehlermodellierung.- 1.3 Testbarkeitsmaße und Testregeln.- 1.4 Teststrategien für synthetisierte Schaltungen.- 2 Grundlagen, Definitionen und Vorarbeiten.- 2.1 Grundlegende Sachverhalte und Definitionen.- 2.2 Die Aufgabenstellung.- 2.3 Vorarbeiten von anderer Seite und Abgrenzung der Ergebnisse.- 3 Fehlerentdeckungs- und Signalwahrscheinlichkeiten.- 3.1 Die Aufgabenstellung und ihre Komplexität.- 3.2 Die exakte Berechnung von Signalwahrscheinlichkeiten.- 3.3 Schätzung der Signalwahrscheinlichkeiten im Programmsystem PROTEST.- 3.4 Modellierung des Signalflusses.- 3.5 Anwendungen.- 3.6 Behandlung von Redundanz.- 4 Die Bestimmung effizienter Zufallstests.- 4.1 Die Gütefunktion für den Zufallstest.- 4.2 Eigenschaften der Gütefunktion.- 4.3 Zur Auswahl des Optimierverfahrens.- 4.4 Optimierung bezüglich einer Variablen ,.- 4.5 Die Methode des steilsten Abstiegs.- 4.6 Die Methode des zyklischen Abstiegs.- 4.7 Fehlersimulation mit optimierten Zufallmustern.- 4.8 Bemerkungen zur Redundanz.- 5 Anwendungen bei Test-und Synthesealgorithmen.- 5.1 Anforderungen an Pseudozufallsfolgen.- 5.2 Der externe Test mit optimierten Zufallsmustern.- 5.3 Der Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern.- 6 Praktische Ergebnisse.- 6.1 Usntersuchte Schaltungen.- 6.2 Validierung der Schätzergebnisse von PROTEST.- 6.3 Musterzahlen für optimierte und für nicht optimierte Eingangswahrscheinüchkeiten.- 6.4 Fehlersimulation mit optimierten und nicht optimierten Mustermengen.- 6.5 Optimierte Mustererzeugung per Hardware.- 1. Der Aufbau von PROTEST.- 2. Beweis der Formel (4.11).- 3. Reduktion deterministischer Testmengen.- 4. Autokorrelation der erzeugten Zufallsfolge.- 5. Beispiele optimierterEingangswahrscheinlichkeiten.