ISBN: 9781475749267
Defect oriented testing is expected to play a significant role in coming generations of technology. Smaller feature sizes and larger die sizes will make ICs more sensitive to defects th… Meer...
hive.co.uk No. 9781475749267. Verzendingskosten:Instock, Despatched same working day before 3pm, zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten Details... |
ISBN: 9781475749267
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits ab 85.49 € als pdf eBook: . Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Technik, Medien > Bücher, Defect Oriented Testing … Meer...
Hugendubel.de Nr. 25260227. Verzendingskosten:, , DE. (EUR 0.00) Details... |
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits als eBook Download von Manoj Sachdev - nieuw boek
ISBN: 9781475749267
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits: Manoj Sachdev Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits: Manoj Sachdev eBooks > Belletristik > Erzählu… Meer...
Hugendubel.de No. 25260227 Verzendingskosten:, , DE (EUR 0.00) Details... |
ISBN: 9781475749267
; PDF; Scientific, Technical and Medical > Energy technology & engineering > Electrical engineering, Elsevier Science
hive.co.uk No. 9781475749267. Verzendingskosten:Instock, Despatched same working day before 3pm, zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten Details... |
ISBN: 9781475749267
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits: ab 85.49 € eBooks > Sachthemen & Ratgeber > Technik Springer US, Springer US
eBook.de Verzendingskosten:in stock, , , DE. (EUR 0.00) Details... |
ISBN: 9781475749267
Defect oriented testing is expected to play a significant role in coming generations of technology. Smaller feature sizes and larger die sizes will make ICs more sensitive to defects th… Meer...
ISBN: 9781475749267
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits ab 85.49 € als pdf eBook: . Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Technik, Medien > Bücher, Defect Oriented Testing … Meer...
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits als eBook Download von Manoj Sachdev - nieuw boek
ISBN: 9781475749267
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits: Manoj Sachdev Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits: Manoj Sachdev eBooks > Belletristik > Erzählu… Meer...
ISBN: 9781475749267
; PDF; Scientific, Technical and Medical > Energy technology & engineering > Electrical engineering, Elsevier Science
ISBN: 9781475749267
Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits: ab 85.49 € eBooks > Sachthemen & Ratgeber > Technik Springer US, Springer US
Bibliografische gegevens van het best passende boek
Gedetalleerde informatie over het boek. - Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
EAN (ISBN-13): 9781475749267
Uitgever: Springer US
Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2016-05-19T09:37:46+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2022-06-02T12:55:36+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9781475749267
ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
978-1-4757-4926-7
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Titel van het boek: digital, think analog, circuits
Gegevens van de uitgever
Auteur: Manoj Sachdev
Titel: Frontiers in Electronic Testing; Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Uitgeverij: Springer; Springer US
308 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2013-06-29
New York; NY; US
Taal: Engels
85,59 € (DE)
88,00 € (AT)
106,50 CHF (CH)
Available
XIV, 308 p. 78 illus.
EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektrotechnik; Verstehen; CMOS; Programmable Logic; analog; circuit; design; integrated circuit; logic; model; modeling; stability; C; Electrical and Electronic Engineering; Engineering Design; Engineering; Konstruktion, Entwurf; BC
1 Introduction.- 2 Digital CMOS Fault Modeling and Inductive Fault Analysis.- 3 Defects in Logic Circuits and Their Test Implications.- 4 Testing Defects in Sequential Circuits.- 5 Defect Oriented RAM Testing and Current Testable RAMs.- 6 Testing Defects in Programmable Logic Circuits.- 7 Defect Oriented Analog Testing.- 8 Conclusion.Andere boeken die eventueel grote overeenkomsten met dit boek kunnen hebben:
Laatste soortgelijke boek:
9780792380832 Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits (Frontiers in Electronic Testing) (Manoj Sachdev)
< naar Archief...