- 5 resultaten
laagste prijs: € 112,99, hoogste prijs: € 160,49, gemiddelde prijs: € 147,73
1
Scan Statistics
bestellen
bij Springer.com
€ 160,49
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link

Scan Statistics - nieuw boek

ISBN: 9780817647483

Scan statistics is currently one of the most active and important areas of research in applied probability and statistics, having applications to a wide variety of fields: archaeology, as… Meer...

Nr. 978-0-8176-4748-3. Verzendingskosten:Worldwide free shipping, , DE. (EUR 0.00)
2
Scan Statistics / Methods and Applications / Joseph Glaz (u. a.) / Buch / xxviii / Englisch / 2009 / SPRINGER NATURE / EAN 9780817647483 - Glaz, Joseph
bestellen
bij booklooker.de
€ 144,74
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link

Glaz, Joseph:

Scan Statistics / Methods and Applications / Joseph Glaz (u. a.) / Buch / xxviii / Englisch / 2009 / SPRINGER NATURE / EAN 9780817647483 - gebonden uitgave, pocketboek

2009, ISBN: 9780817647483

[ED: Gebunden], [PU: SPRINGER NATURE], Scan statistics is currently one of the most active and important areas of research in applied probability and statistics, having applications to a … Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) Buchbär
3
Scan Statistics: Methods and Applications - Glaz, Joseph / Pozdnyakov, Vladimir / Wallenstein, Sylvan (ed.)
bestellen
bij booklooker.de
€ 112,99
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Glaz, Joseph / Pozdnyakov, Vladimir / Wallenstein, Sylvan (ed.):
Scan Statistics: Methods and Applications - gebonden uitgave, pocketboek

2009

ISBN: 9780817647483

[ED: Hardcover], [PU: Birkhäuser / Birkhäuser Boston / Springer, Basel], Filling a gap in the literature, this volume brings together a collection of selected chapters illustrating the de… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) buecher.de GmbH & Co. KG
4
Scan Statistics - Glaz, Joseph Pozdnyakov, Vladimir Wallenstein, Sylvan
bestellen
bij booklooker.de
€ 159,95
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Glaz, Joseph Pozdnyakov, Vladimir Wallenstein, Sylvan:
Scan Statistics - eerste uitgave

2009, ISBN: 9780817647483

gebonden uitgave

[ED: Gebunden], [PU: Birkhaeuser Boston], Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presentation is accessible to statisticians as w… Meer...

Verzendingskosten:Versandkostenfrei, Versand nach Deutschland. (EUR 0.00) Moluna GmbH
5
Scan Statistics: Methods and Applications
bestellen
bij Hugendubel.de
€ 160,49
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Scan Statistics: Methods and Applications - pocketboek

2009, ISBN: 9780817647483

*Scan Statistics: Methods and Applications* - Methods and Applications. Auflage 2009 / gebundene Ausgabe für 160.49 € / Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Mathematik Medien > Bücher n… Meer...

0817647481. Verzendingskosten:Shipping in 7 days, , Versandkostenfrei nach Hause oder Express-Lieferung in Ihre Buchhandlung., DE. (EUR 0.00)

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek
Scan Statistics: Methods and Applications

Scan statistics is currently one of the most active and important areas of research in applied probability and statistics, having applications to a wide variety of fields: archaeology, astronomy, bioinformatics, biosurveillance, molecular biology, genetics, computer science, electrical engineering, geography, material sciences, physics, reconnaissance, reliability and quality control, telecommunication, and epidemiology. Filling a gap in the literature, this self-contained volume brings together a collection of selected chapters illustrating the depth and diversity of theory, methods and applications in the area of scan statistics.

Gedetalleerde informatie over het boek. - Scan Statistics: Methods and Applications


EAN (ISBN-13): 9780817647483
ISBN (ISBN-10): 0817647481
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2009
Uitgever: SPRINGER NATURE
394 Bladzijden
Gewicht: 0,943 kg
Taal: eng/Englisch

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2007-03-07T00:59:43+01:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2024-02-02T13:53:16+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9780817647483

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
0-8176-4748-1, 978-0-8176-4748-3
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: wallenstein, sylvan, vladimir
Titel van het boek: scan, applications statistics


Gegevens van de uitgever

Auteur: Joseph Glaz; Vladimir Pozdnyakov; Sylvan Wallenstein
Titel: Statistics for Industry and Technology; Scan Statistics - Methods and Applications
Uitgeverij: Birkhäuser; Birkhäuser Boston
394 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2009-05-28
Boston; MA; US
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
POD
XXVIII, 394 p. 40 illus.

BB; Hardcover, Softcover / Mathematik/Wahrscheinlichkeitstheorie, Stochastik, Mathematische Statistik; Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik; Verstehen; Mathematik; Excel; Martingale; Radiologieinformationssystem; algorithms; bioinformatics; calculus; clustering; martingale methods; protein and DNA sequences; quality control; scan statistics; scan statistics applications; scan statistics applications, health sciences; Statistical Theory and Methods; Biostatistics; Probability Theory; Mathematical and Computational Biology; Probability and Statistics in Computer Science; Applications of Mathematics; Stochastik; DV-gestützte Biologie/Bioinformatik; Mathematik für Informatiker; Angewandte Mathematik; EA

Joseph Naus: Father of the Scan Statistic.- Precedence-Type Tests for the Comparison of Treatments with a Control.- Extreme Value Results for Scan Statistics.- Boundary Crossing Probability Computationsin the Analysis of Scan Statistics.- Approximations for Two-Dimensional Variable Window Scan Statistics.- Applications of Spatial Scan Statistics: A Review.- Extensions of the Scan Statistic for the Detection and Inference of SpatialClusters.- 1-Dependent Stationary Sequences and Applications to Scan Statistics.- Scan Statistics in Genome-Wide Scan for Complex Trait Loci.- On Probabilities for Complex Switching Rules in Sampling Inspection.- Bayesian Network Scan Statistics for Multivariate Pattern Detection.- ULS Scan Statistic for Hotspot Detection with Continuous Gamma Response.- False Discovery Control for Scan Clustering.- Martingale Methods for Patterns and Scan Statistics.- How Can Pattern Statistics Be Useful for DNA Motif Discovery?.- Occurrence of Patterns and Motifs in Random Strings.- Detection of Disease Clustering.
Presentation is accessible to statisticians as well as to scientists from other disciplines where scan statistics are employed Many current results and new directions for future research are featured Contains extensive references to research articles, books, and relevant computer software May be used as a textbook for a graduate-level seminar on scan statistics

< naar Archief...