- 5 resultaten
laagste prijs: € 94,94, hoogste prijs: € 118,99, gemiddelde prijs: € 110,57
1
Noncontact Atomic Force Microscopy - Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger
bestellen
bij Springer.com
€ 103,52
bestellenGesponsorde link
Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger:

Noncontact Atomic Force Microscopy - nieuw boek

2009, ISBN: 9783319155883

This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic re… Meer...

new in stock. Verzendingskosten:zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten
2
Noncontact Atomic Force Microscopy - Ernst Meyer, Franz J. Giessibl, Roland Wiesendanger, Seizo Morita
bestellen
bij kobo.com
€ 94,94
bestellenGesponsorde link

Ernst Meyer, Franz J. Giessibl, Roland Wiesendanger, Seizo Morita:

Noncontact Atomic Force Microscopy - nieuw boek

ISBN: 9783319155883

This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic re… Meer...

Verzendingskosten:Zzgl. Versandkosten., exclusief verzendingskosten
3
Noncontact Atomic Force Microscopy - Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger
bestellen
bij lehmanns.de
€ 117,69
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger:
Noncontact Atomic Force Microscopy - nieuw boek

2015

ISBN: 9783319155883

Volume 3, eBooks, eBook Download (PDF), 2015, [PU: Springer International Publishing], Seiten: 527, Springer International Publishing, 2015

Verzendingskosten:Download sofort lieferbar. (EUR 0.00)
4
Noncontact Atomic Force Microscopy - Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger
bestellen
bij lehmanns.de
€ 117,69
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger:
Noncontact Atomic Force Microscopy - nieuw boek

2015, ISBN: 9783319155883

Volume 3, eBooks, eBook Download (PDF), 2015, [PU: Springer International Publishing], Springer International Publishing, 2015

Verzendingskosten:Download sofort lieferbar. (EUR 0.00)
5
Noncontact Atomic Force Microscopy - Seizo Morita;  Franz J. Giessibl;  Ernst Meyer;  Roland Wiesendanger
bestellen
bij lehmanns.de
€ 118,99
verzending: € 0,001
bestellenGesponsorde link
Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger:
Noncontact Atomic Force Microscopy - eerste uitgave

2015, ISBN: 9783319155883

Volume 3, [ED: 1], Auflage, eBook Download (PDF), eBooks, [PU: Springer-Verlag]

Verzendingskosten:Download sofort lieferbar, , Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00)

1Aangezien sommige platformen geen verzendingsvoorwaarden meedelen en deze kunnen afhangen van het land van levering, de aankoopprijs, het gewicht en de grootte van het artikel, een eventueel lidmaatschap van het platform, een rechtstreekse levering door het platform of via een derde aanbieder (Marktplaats), enz., is het mogelijk dat de door euro-boek.nl meegedeelde verzendingskosten niet overeenstemmen met deze van het aanbiedende platform.

Bibliografische gegevens van het best passende boek

Bijzonderheden over het boek

Gedetalleerde informatie over het boek. - Noncontact Atomic Force Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783319155883
ISBN (ISBN-10): 3319155881
Verschijningsjaar: 2009
Uitgever: Springer International Publishing

Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2015-08-07T14:52:55+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2022-11-25T17:47:30+01:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9783319155883

ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
3-319-15588-1, 978-3-319-15588-3
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: ernst meyer, gies, ernst wies, wiese, roland wiesendanger, meyer franz


Gegevens van de uitgever

Auteur: Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger
Titel: NanoScience and Technology; Noncontact Atomic Force Microscopy - Volume 3
Uitgeverij: Springer; Springer International Publishing
527 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2015-05-18
Cham; CH
Taal: Engels
213,99 € (DE)
220,00 € (AT)
236,00 CHF (CH)
Available
XXII, 527 p. 256 illus., 159 illus. in color.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Verstehen; Atom Manipulation; Atomic Force Microscopy; Atomic Resolution; Atomic/Molecular Manipulation; Chemical Structure; Force Mapping with Atomic Resolution; Liquid AFM; Magnetic Exchange Force Microscopy; Scanning Probe Techniques; Scanning Tunneling Microscopy; B; Nanophysics; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Spectroscopy; Nanotechnology; Chemistry and Materials Science; Nanowissenschaften; Materialwissenschaft; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Nanotechnologie; BB

From the Contents: Introduction.- 3D Force-Field Spectroscopy.- Simultaneous NC-AFM/STM Measurements of Atomic-Sized Contacts.- Spectroscopy and Manipulation Using AFM/STM at Room Temperature.- The Phantom Force - The Influence of a Tunnel Current on Force Microscopy.- Non-Contact Friction.- Magnetic Exchange Force Spectroscopy.
Represents a most advanced state-of-the-art report on atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy Deals with the various classes of materials studied at the atomic scale A valuable reference for researchers as well as a text for graduate students Written by leading researchers in the field Includes supplementary material: sn.pub/extras

< naar Archief...