Fringe 2013 : 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology - gebonden uitgave, pocketboek
2013, ISBN: 364236358X
[EAN: 9783642363580], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], ADAPTIVEANDACTIVESOLUTIONSTRATEGIES; COMPRESSEDSENSING; COMPUTATIONALIMAGING; DIGITALWAVEFRONTENGINEERING; HYBR… Meer...
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2013, ISBN: 9783642363580
Springer, Gebundene Ausgabe, Auflage: 2014, 1002 Seiten, Publiziert: 2013-08-29T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: 700 black & white illustrations, 39.57 kg, Grafik & Multime… Meer...
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[PU: Springer Berlin], 24119320/1, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 2014, Banküberweisung, Kreditkarte, PayPal, Klarna-Sofortüberweisung, Internationaler Versand
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Fringe 2013 : 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology - gebonden uitgave, pocketboek
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Bibliografische gegevens van het best passende boek
auteur: | |
Titel: | |
ISBN: |
- New methods and tools for the generation, acquisition, processing, and evaluation of data in Optical Imaging and Metrology (digital wavefront engineering, computational imaging, model-based reconstruction, compressed sensing, inverse problems solution)
- Application-driven technologies in Optical Imaging and Metrology (high-resolution, adaptive, active, robust, reliable, flexible, in-line, real-time)
- High-dynamic range solutions in Optical Imaging and Metrology (from macro to nano)
- Hybrid technologies in Optical Imaging and Metrology
(hybrid optics, sensor and data fusion, model-based solutions, multimodality)
- New optical sensors, imaging and measurement systems
(integrated, miniaturized, in-line, real-time, traceable, remote)
Special emphasis is put on new strategies, taking into account the active combination of physical modeling, computer aided simulation and experimental data acquisition. In particular attention is directed towards new approaches for the extension of existing resolution limits that open the gates to wide-scale metrology, ranging from macro to nano, by considering dynamic changes and using advanced optical imaging and sensor systems.
Gedetalleerde informatie over het boek. - Fringe 2013: 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
EAN (ISBN-13): 9783642363580
ISBN (ISBN-10): 364236358X
Gebonden uitgave
pocket book
Verschijningsjaar: 2013
Uitgever: Osten, Wolfgang, Springer
Boek bevindt zich in het datenbestand sinds 2014-05-10T18:55:41+02:00 (Amsterdam)
Detailpagina laatst gewijzigd op 2023-10-06T23:31:38+02:00 (Amsterdam)
ISBN/EAN: 9783642363580
ISBN - alternatieve schrijfwijzen:
3-642-36358-X, 978-3-642-36358-0
alternatieve schrijfwijzen en verwante zoekwoorden:
Auteur van het boek: ost, osten
Titel van het boek: frings, fringe
Gegevens van de uitgever
Auteur: Wolfgang Osten
Titel: Fringe 2013 - 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
Uitgeverij: Springer; Springer Berlin
976 Bladzijden
Verschijningsjaar: 2013-08-29
Berlin; Heidelberg; DE
Gedrukt / Gemaakt in
Taal: Engels
320,99 € (DE)
329,99 € (AT)
354,00 CHF (CH)
POD
XXVI, 976 p. 620 illus.
BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie; Sicherheitssysteme und Brandmeldeanlagen; Verstehen; Ingenieurwissenschaften; Adaptive and Active Solution Strategies; Compressed Sensing; Computational Imaging; Digital Wavefront Engineering; Hybrid Optics; In-line Performance; Integration; Inverse-Problems Solution; Miniaturization; Model-Based Reconstruction Technologies; Model-Based Solutions; Multimodality; Real-Time Performance; Remote Technology; Resolution-Enhanced Technologies; Sensor and Data Fusion; Traceability; quality control, reliability, safety and risk; Security Science and Technology; Laser; Signal, Speech and Image Processing; Computer Vision; Laserphysik; Elektronik; Digitale Signalverarbeitung (DSP); Maschinelles Sehen, Bildverstehen; EA; BC
Special emphasis is put on new strategies, taking into account the active combination of physical modeling, computer aided simulation and experimental data acquisition. In particular attention is directed towards new approaches for the extension of existing resolution limits that open the gates to wide-scale metrology, ranging from macro to nano, by considering dynamic changes and using advanced optical imaging and sensor systems.A comprehensive overview about the state of the art in modern optical imaging and metrology Written by the world leading experts in the field Combination of two disciplines: metrology and imaging
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